X射線熒光分析儀產品資料和技術參數介紹，X射線熒光分析儀產品是在天瑞儀器多年XRF檢測技術和經驗基礎之上研發的一款新型高端X射線熒光光譜測試儀，采用新一代探測器及多道技術，實現超高計數率，1秒出，準確分析貴金屬含量。同時，具備二維移動平臺及高清工業攝像頭，實現樣品精確定位

性能特點

快,1秒鐘出

1、采用行業先進的極速探測器技術——（SDD）分辨率較低至125eV

優勢：探測面積大（面積達25m㎡）、單位時間內接受信息多、計數率高分辨率好

對貴金屬的探測效率更高，探測信噪比更強，檢出限更低

2、采用行業先進的數字多道技術

優勢：有效提高輸出效率，實現超高計數率，保證采集有效計數率超過600KCPS

3、采用大功率X光管及先進的準直濾光系統

優勢：使貴金屬的激發效率更高

4、光閘系統

優勢：樣品更換無需關閉高壓，提高測試效率與測試精度

精密的定位系統

超高清晰工業攝像頭，更清晰的顯示測試點

多點測試

2D全自動移動樣品臺——可實現圖像聯動控制，多點連續測試

超小樣品檢測——較小可測到0.2毫米

8種準直器、4種濾光片快速切換功能，可根據不同樣品進行選擇

準直器較小可達0.2毫米，針對超小樣品可準確聚焦檢測

可高效區分99.9及黃金純度

可測量貴金屬中有害元素，鉛、鎘等

人性化的設計

更安全：X射線聯動安全裝置----光閘與聯動裝置互動；儀器外殼與高壓使能端相聯動

更快捷：多點測試，點哪測哪

預約預熱：根據設定時間，儀器可定時開始測試

預約開機預熱功能：客戶可預約儀器開機時間，同時可以儀器預熱并自動檢測、校正儀器狀態；同時可以實現預約關機，關機前可設定聲光提示

技術參數

測量元素范圍：硫(S)～鈾(U)

檢出限：分析檢出限可達2ppm，較薄可測試0.005μm

元素含量分析范圍：2ppm～

探測器：SDD探測器，分辨率較低可達125eV

管流：≤1000uA

管壓：5～50kV

測量時間：1s或以上(可調)

濾光片：4種濾光片自由切換

準直器：8種準直器自動切換

樣品觀察：高清工業攝像頭

環境濕度：≤70

環境溫度：15℃～30℃

制冷方式：電制冷，無需任何耗材

輸入電壓：交流220V±5V，建議配置交流凈化穩壓電源

儀器配置

SDD探測器

數字多道分析系統

X射線源

高低壓電源

準直器濾光片系統

精密移動平臺

光閘系統

樣品觀測系統

電子控制系統

計算機及噴墨打印機

應用領域

ROHS檢測儀

鍍層測厚

合金分析

不銹鋼分析

鹵素檢測

首飾加工廠

金銀珠寶首飾店

貴金屬冶煉廠

質量檢驗部門

分析測試中心

典當行

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