根據物質的光譜來鑒別物質及確定它的化學組成和相對含量的方法叫光譜分析。其優點是靈敏，迅速。歷史上曾通過光譜分析發現了許多新元素，如銣，銫，氦等。根據分析原理光譜分析可分為發射光譜分析與吸收光譜分析二種；根據被測成分的形態可分為原子光譜分析與分子光譜分析。光譜分析的被測成分是原子的稱為原子光譜，被測成分是分子的則稱為分子光譜。

采用CMOS檢測器全譜測試技術,可測試覆蓋波長范圍內的所有譜線，配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，方便維護和實驗室放置。OES8000s是全面測試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器，可以滿足包括：Fe基體、Cu基體、Al基體、Ti基體、Pb基體、

Mg基體、Co基體等基體要求，是金屬元素分析的優選擇。

全譜分析技術，方便配置更多基體和元素，方便在用戶現場補充配置

儀器體積小巧，對實驗室空間要求低

全天候工作，具有優異的穩定性和可靠性

樣品測試速度快，單次測試過程少于40秒

儀器使用和維護簡單、方便，對人員要求低

原廠安裝分析程序，測試數據，適用合齊全

配置標準化樣品可對儀器進行周期性校正

不使用化學試劑，測試過程安全、環保

 

技術優勢

天瑞直讀光譜儀OES8000s廣泛應用于鋼鐵及有色金屬產品元素分析，快速、、穩定、可靠測試幾十種元素，滿足工業研發、工藝控制、進料檢驗、產品分選多方面檢驗需求，是生產金屬產品的*設備。

全譜檢測全面測試各種金屬和元素

基于CCD檢測器全譜測試技術，全面測試各種金屬中元素的譜線，方便實現多基體、多元素的測試。

配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶處補充測試元素、分析程序。

 

國際供應商提供核心部件

光譜色散元件——光柵由德國Zeiss/法國JY公司制造，保證優異的光譜分辨能力

光譜檢測器——COMS探測器由日本濱松制造，確保譜線檢測靈敏、低噪聲

 

光室恒溫系統

光室恒溫腔體內配置反饋式加熱裝置和隔溫層，有效保證光室內恒溫。

由此抑制溫度變化下機械件尺寸微弱變化導致的光路漂移。除維護，平時保養一般不需進行描跡。

同時檢測器工作在恒溫環境有助于光電轉換性能的穩定。

 

快速同時分析鋼鐵、有色金屬材料中多種元素

將已預處理樣品置于樣品臺后，OES8000s可在至多40秒內呈現測試結果。

可根據客戶需求，測試幾乎所有鋼鐵、有色金屬材料中常見元素含量。

 

的測試方案

長期測試技術服務的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測試方案。

測試方案采用針對材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶各類常見測試需求。

分析程序由原廠采用國際、標準樣品校準，經儀器軟件擬合、校正。

用戶只需采用原廠配置少量標準化樣品即可完成日常維護，不需購買大量制作分析程序的標準樣品。

 

工作條件

工作溫度：15-30℃

相對濕度：≤70%

電    源：220±5V，單相50Hz，接地電阻＜1Ω

實驗室無震動、粉塵、強電磁干擾、強氣流、腐蝕性氣體

近紅外光譜分析儀產品簡介

近紅外光譜分析儀采用全息數字式光柵和高靈敏度銦鎵檢測器（TEC制冷恒溫）相結合的光學設計，基于漫反射方式進行樣品分析，波長范圍覆蓋1000-2500nm。通過外置電腦和RIMP軟件實現固體顆粒、片狀、粉末樣品中一些物理和化學成分的無損快速檢測。近紅外光譜分析儀整套系統操作簡單，只需要將樣品盤放在樣品臺上，點擊測量，儀器自動完成測量分析。近紅外光譜分析儀在飼料生產、糧油加工、谷物收購、育種研究等領域有著廣泛的應用。

近紅外光譜分析儀產品特點
操作簡單，無需培訓，無需樣品前處理，不破壞樣品。
分析速度快，一分鐘內同時檢測出多個指標，如水分、脂肪、蛋白、纖維、灰分、等指標。
適合多種樣品形式，如顆粒、片狀和粉末，并且裝樣簡單、方便。
采用的光柵掃描光譜技術和銦鎵檢測器，保證儀器穩定性和更好的信噪比。
旋轉樣品盤測樣方式，可增強不均勻樣品的代表性、提高測量結果的準確性。
儀器內置標準物質，具有自動診斷和故障提示功能。
光源采用自準直模塊設計，無需調節，輕松實現光源更換。
多臺儀器間能夠進行良好的模型傳遞。
全中文界面，操作簡單及將儀器操作、建模和數據處理整合一體的軟件。
支持網絡連接功能，方便儀器日常維護和模型升級服務。
 
旋轉樣品盤設計—檢測更 光源更換操作簡便快捷
應用領域
飼料行業  油脂加工 谷物交易 育種研究

光譜分析儀的分析原理是將光源出的待測元素的特征光譜通過樣品的蒸汽中待測元素的基態原子所吸收，由發射光譜被減弱的程度，進而求得樣品中待測元素的含量。


任何元素的原子都是由原子核和繞核運動的電子組成的，原子核外電子按其能量的高低分層分布而形成不同的能級，因此，一個原子核可以具有多種能級狀態。能量低的能級狀態稱為基態能級（E0=0），其余能級稱為激發態能級，而能低的激發態則稱為激發態。正常情況下，原子處于基態，核外電子在各自能量低的軌道上運動。如果將一定外界能量如光能提供給該基態原子，當外界光能量E恰好等于該基態原子中基態和某一較高能級之間的能級差E時，該原子將吸收這一特征波長的光，外層電子由基態躍遷到相應的激發態，而產生原子吸收光譜。電子躍遷到較高能級以后處于激發態，但激發態電子是不穩定的，大約經過10^-8秒以后，激發態電子將返回基態或其它較低能級，并將電子躍遷時所吸收的能量以光的形式釋放出去，這個過程稱原子發射光譜。可見原子吸收光譜過程吸收能量，而原子發射光譜過程則釋放能量。
光譜分析就是從識別這些元素的特征光譜來鑒別元素的存在(定性分析)，而這些光譜線的強度又與試樣中該元素的含量有關，因此又可利用這些譜線的強度來測定元素的含量(定量分析)。這就是發射光譜分析的基本依據。
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