天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光鍍層厚度測(cè)量技術(shù)經(jīng)驗(yàn)，專門研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀。測(cè)量方便快捷，無(wú)需液氮，無(wú)需樣品前處理。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍、熱鍍等鍍層的成分厚度以及電鍍液金屬離子濃度進(jìn)行檢測(cè),幫助企業(yè)準(zhǔn)確核算成本及質(zhì)量管控?？蓮V泛應(yīng)用于光伏行業(yè)、五金衛(wèi)浴、電子電器、、磁性材料、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域。
X熒光鍍層測(cè)厚儀配置
01 立的X/Y/Z軸控制系統(tǒng)
02 微焦斑X光管 
03 可變高壓電源
04 防撞板外加防撞激光保護(hù)檢測(cè)器對(duì)儀器進(jìn)行雙重安全保護(hù)
05 Fast-SDD探測(cè)器
06 雙激光定位裝置
07 標(biāo)配可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直孔和濾光片

2019年10月23日，第北京分析測(cè)試學(xué)術(shù)報(bào)告會(huì)暨展覽會(huì)（BCEIA2019）在北京國(guó)家會(huì)議中心隆重舉辦。作為國(guó)際分析測(cè)試行業(yè)的盛會(huì)，今年的BCEIA是一番高朋滿座的熱鬧景象。來(lái)自世界各地的500家儀器企業(yè)參展，天瑞儀器如期赴約，精彩亮相。 
      本次展會(huì)，天瑞儀器可謂是產(chǎn)品豐富、陣容強(qiáng)大。攜旗下子公司上海磐合科學(xué)儀器股份有限公司（以下簡(jiǎn)稱：磐合科儀）、及天瑞儀器福建分公司帶領(lǐng)眾多產(chǎn)品亮相本次大會(huì)。豐富的產(chǎn)品，前瞻的技術(shù)吸引了大批觀眾前來(lái)咨詢，與天瑞技術(shù)人員探討產(chǎn)品細(xì)節(jié)，交流應(yīng)用經(jīng)驗(yàn)。展會(huì)期間，天瑞儀器還設(shè)立了掃碼贏環(huán)節(jié)，微信公眾號(hào)“幸運(yùn)”簡(jiǎn)單，互動(dòng)性強(qiáng)，吸引了眾多觀眾掃碼挑戰(zhàn)。  為期四天的盛會(huì)已落下帷幕，天瑞儀器希望通過(guò)本次展會(huì)，向更多用戶展示天瑞在科學(xué)領(lǐng)域的創(chuàng)新成果。天瑞儀器將不忘初心，砥礪前行，繼續(xù)譜寫分析檢測(cè)領(lǐng)域的新傳奇，力爭(zhēng)做世界的分析檢測(cè)解決方案提供者，打造儀器精品，為客戶創(chuàng)造更多價(jià)值。

設(shè)計(jì)亮點(diǎn)
上照式設(shè)計(jì)，可適應(yīng)更多異型微小樣品的測(cè)試。相較傳統(tǒng)光路，信號(hào)采集效率提升以上?？勺兘垢呔珨z像頭，搭配距離補(bǔ)正系統(tǒng)，滿足微小產(chǎn)品，臺(tái)階，深槽，沉孔樣品的測(cè)試需求?？删幊套詣?dòng)位移平臺(tái)，微小密集型可多點(diǎn)測(cè)試，大大提高測(cè)樣效率。自帶數(shù)據(jù)校對(duì)系統(tǒng)。

X射線測(cè)厚儀：
利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí)，X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測(cè)定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心，采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng)，達(dá)到要求的軋制厚度。主要應(yīng)用行業(yè)：有色金屬的板帶箔加工、冶金行業(yè)的板帶加。
紙張測(cè)厚儀：
適用于4mm以下的各種薄膜、紙張、紙板以及其他片狀材料厚度的測(cè)量。
X射線測(cè)厚儀：適用生產(chǎn)鋁板、銅板、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè)，可以與軋機(jī)配套，應(yīng)用于熱軋、鑄軋、冷軋、箔軋。其中，x射線測(cè)厚儀還可以用于冷軋、箔軋和部分熱軋的軋機(jī)生產(chǎn)過(guò)程中對(duì)板材厚度進(jìn)行自動(dòng)控制。涂層測(cè)厚儀F型探頭可直接測(cè)量導(dǎo)磁材料（如鋼鐵、鎳）表面上的非導(dǎo)磁覆蓋層厚度（如：油漆、塑料、搪瓷、銅、鋁、鋅、鉻、等）?？蓱?yīng)用于電鍍層、油漆層、搪瓷層、鋁瓦、銅瓦、巴氏合金瓦、磷化層、紙張的厚度測(cè)量，也可用于船體油漆及水下結(jié)構(gòu)件的附著物的厚度測(cè)量。
天瑞儀器股份有限公司集30多年X熒光膜厚測(cè)量技術(shù),研發(fā)的一款全新上照式X射線熒光分析儀,該款儀器配置嵌入集成式多準(zhǔn)直孔、濾光片自動(dòng)切換裝置和雙攝像頭,不僅能展現(xiàn)測(cè)試部位的細(xì)節(jié),也能呈現(xiàn)出高清廣角視野;自動(dòng)化的X/Y/Z軸的三維移動(dòng),實(shí)現(xiàn)對(duì)平面、凹凸、拐角、弧面等形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦分析。能地滿足半導(dǎo)體、芯片及PCB等行業(yè)的非接觸微區(qū)鍍層厚度測(cè)試需求。
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