ROHS檢測儀產(chǎn)品詳細(xì)資料和技術(shù)參數(shù)介紹，ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環(huán)保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導(dǎo)體探測器的高分辨力，對元素含量進(jìn)行定性定量測試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質(zhì)測試的檢測光譜儀
玩具法規(guī)在全世界范圍內(nèi)不斷完善，如歐盟的《玩具指令》、美國的玩具標(biāo)準(zhǔn)-ASTM F963、ISO中一些關(guān)于玩具標(biāo)準(zhǔn)。這些標(biāo)準(zhǔn)對于玩具企業(yè)來說，執(zhí)行這些標(biāo)準(zhǔn)責(zé)無旁貸；至于說到管控成本過高的問題，其實是玩具企業(yè)沒有找到合適的解決方案。
針對玩具檢測設(shè)備，X熒光光譜儀是經(jīng)濟(jì)有效的檢測設(shè)備，它自身靈敏、的特征決定了適合生產(chǎn)過程的之用。X熒光光譜儀具有元素快速分析的功能，它可萃取玩具中重金屬含量測試（鉛、鎘、鉻、、銻、鋇、汞、硒等）、包裝物料的有毒元素測試、鄰苯二甲酸酯類含量、EN71，測試結(jié)果度高。X熒光光譜儀的檢測結(jié)果可以和化學(xué)檢測媲美，還節(jié)省儀器購置成本、使用成本和檢測時間成本。目前X熒光光譜儀已成為企業(yè)倡導(dǎo)綠色生產(chǎn)過程中必不可少的檢測工具。

技術(shù)指標(biāo):
元素分析范圍：硫（S）～鈾（U） 
分析含量：0.1ppm～99.9%
重復(fù)性：0.1%
穩(wěn)定性：0.1%
環(huán)境溫度：15℃～30℃ 
電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）
儀器配置:
超銳X光源和樣品激發(fā)機構(gòu) 
上蓋電動開關(guān)的大容量樣品腔 
可自動切換的準(zhǔn)直器，濾光片 
高清晰CCD攝像頭 
Si-PIN探測器 
信號檢測電子電路 
高低壓電源 
計算機及噴墨打印機 
X熒光分析軟件

優(yōu)化散熱設(shè)計，散熱效果更好；
內(nèi)置高清攝像頭，準(zhǔn)確的觀察樣品放置位置；
打破傳統(tǒng)儀器直線的設(shè)計，采用流線體的整體化設(shè)計，儀器時尚；
采用探測器，電致冷而非液氮制冷，體積小、數(shù)據(jù)分析準(zhǔn)確且維護(hù)成本低；
采用SES信號增強處理系統(tǒng)，有效提高測量的靈敏度，讓測量更；
一鍵式自動測試，使用更簡單，操作更方便，界面更人性化；
七種光路校正準(zhǔn)直系統(tǒng)，能根據(jù)不同樣品自動切換；
一體化散熱設(shè)計，使整機散熱性能得到較大提高，保證了核心部件的運行穩(wěn)定；
機芯溫度技術(shù)，保證X射線源的可靠運行，使用壽命長，降低使用成本；
多重儀器配件保護(hù)系統(tǒng)，并可通過軟件進(jìn)行全程, 讓儀器工作更穩(wěn)定；
鹵素用測試軟件，標(biāo)準(zhǔn)視窗設(shè)計，操作方便；
本機采用USB接口，有效地保證了數(shù)據(jù)準(zhǔn)確高速有效的傳輸。

相比之前的傳統(tǒng)的ROHS檢測儀，雖然它們大多型號也能在原基礎(chǔ)升級為鹵素測試，但需在硬件和軟件上做較大的改動，且成本較高，目前市場上的能測ROHS和鹵素的儀器都是分體式設(shè)計，成本較高些，而天瑞的EDX1100在算法軟件上，將ROHS測試和鹵素測試一體化，兩者化二為一，等于是一個整體，在產(chǎn)品成本上大大得到了壓縮，也等于是直接讓利了客戶，相比之前分體式設(shè)計也能同時檢測ROHS和鹵素的機臺，EDX1100的一體化設(shè)計，成本至少降低了30%，EDX1100也采用的是新一代的鈹窗X大功率光管，壽命提高了5000小時，在應(yīng)用上屬于通用于ROHS檢測儀器，廣泛應(yīng)用于塑膠，五金，電子電器，化工等生產(chǎn)和制造領(lǐng)域環(huán)保臨測。
技術(shù)參數(shù)
測量元素范圍 ：硫（S）～鈾（U）測量時間：200S
檢出限：分析檢出限可達(dá)2ppm，薄可測試0.005μm含量范圍：1ppm～99.9%穩(wěn)定性：0.01%管壓：5～50KV管流：≤1000uA探測器：SDD探測器，分辨率可達(dá)125eV準(zhǔn)直器：6種準(zhǔn)直器自動切換濾光片：5種濾光片自由切換樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭環(huán)境濕度：≤70%環(huán)境溫度：15℃～30℃電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）
分析原理：
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應(yīng)被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；K為不同類型能量探測器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對獲得的強度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
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