手持式光譜儀分析原理和性能介紹，手持式光譜儀技術(shù)參數(shù)和配置報(bào)價(jià)請(qǐng)咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司是分析儀器制造廠商，研制的explorer5000手持式光譜儀操作簡(jiǎn)單，質(zhì)量穩(wěn)定，用于金屬合金材料檢測(cè)，礦石元素成分分析，土壤重金屬含量測(cè)試，rohs鹵素快速篩選，鍍層厚度分析測(cè)量等領(lǐng)域。
手持式合金分析儀采用了的X熒光分析技術(shù)，能快速、及無(wú)損的分析多種材質(zhì)。系列具備優(yōu)異的金屬分析能力，能在1-2秒鐘內(nèi)判定金屬牌號(hào)，若延長(zhǎng)檢測(cè)時(shí)間即可獲得接近實(shí)驗(yàn)室級(jí)別的分析結(jié)果。在您扣動(dòng)分析儀的剎那間，可輕松實(shí)現(xiàn)快速準(zhǔn)確分析、大幅降低實(shí)驗(yàn)室分析成本、快速制定重大決策等目標(biāo)。手持式合金分析儀可分析黑色金屬、有色金屬、合金的化學(xué)成分，能幫助客戶在質(zhì)量控制、材料分類(lèi)、合金鑒別、防范、事故調(diào)查等現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用領(lǐng)域中，進(jìn)行合號(hào)鑒別、金屬成分快速分析，獲得準(zhǔn)確、可靠的分析檢測(cè)結(jié)果。
應(yīng)用領(lǐng)域
◆材料可行性（PMI）◆金屬機(jī)加工◆廢舊金屬回收◆生產(chǎn)制造QA/QC控制

環(huán)保土壤重金屬行業(yè)應(yīng)用案例：
土壤重金屬普查：
僅需簡(jiǎn)單扣動(dòng)，微量金屬元素成分盡在掌握。可以進(jìn)行大量的土壤普查工作。
土壤重金屬污染后的應(yīng)急處理：
能快速、現(xiàn)場(chǎng)追蹤污染異常，圈定污染邊界。
大量土壤重金屬污染樣篩查
手持四代Genius 9000 可以在很短的時(shí)間內(nèi)圈點(diǎn)重點(diǎn)土壤污染區(qū)，進(jìn)行重點(diǎn)優(yōu)選治理。快速分別污染區(qū)與非污染區(qū)。整體提高了篩查生產(chǎn)效率，大的減少化驗(yàn)和運(yùn)輸費(fèi)用
售后服務(wù)：
天瑞儀器持續(xù)提供的設(shè)備、實(shí)惠的價(jià)格、快捷的服務(wù)、不斷完善讓每一位客戶更加滿意。公司售后服務(wù)團(tuán)隊(duì)有100多輛車(chē)，上門(mén)速度即時(shí)。我們的服務(wù)承諾是維修，百年不懈！

原理
手持式光譜儀是一種基于XRF光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，當(dāng)能量高于原子內(nèi)層電子結(jié)合能的高能X射線與原子發(fā)生碰撞時(shí),驅(qū)逐一個(gè)內(nèi)層電子從而出現(xiàn)一個(gè)空穴,使整個(gè)原子體系處于不穩(wěn)定的狀態(tài),當(dāng)較外層的電子躍遷到空穴時(shí),產(chǎn)生一次光電子，擊出的光子可能再次被吸收而逐出較外層的另一個(gè)次級(jí)光電子，發(fā)生俄歇效應(yīng),亦稱次級(jí)光電效應(yīng)或無(wú)效應(yīng)。所逐出的次級(jí)光電子稱為俄歇電子。當(dāng)較外層的電子躍入內(nèi)層空穴所釋放的能量不被原子內(nèi)吸收,而是以光子形式放出,便產(chǎn)生X 射線熒光，其能量等于兩能級(jí)之間的能量差。因此，射線熒光的能量或波長(zhǎng)是特征性的,與元素有一一對(duì)應(yīng)的關(guān)系。由Moseley定律可知，只要測(cè)出熒光X射線的波長(zhǎng),可以知道元素的種類(lèi),這是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。此外,熒光X射線的強(qiáng)度與相應(yīng)元素的含量有一定的關(guān)系,據(jù)此,可以進(jìn)行元素定量分析。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來(lái)得到待測(cè)元素的特息。

手持式光譜分析儀是金屬制造業(yè)的質(zhì)量檢測(cè)*手段，實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)過(guò)程的原材料管控，保證工業(yè)生產(chǎn)的質(zhì)量。所能測(cè)試的樣品形狀包括削屑、刨花、棒、線、細(xì)小的工件和部件。天瑞公司的手持式合金分析儀genius每天科地檢測(cè)上千個(gè)金屬合金樣 品。即使是初級(jí)檢驗(yàn)員也能很有把握地將大量的 樣 品 測(cè) 出 完 整 而 準(zhǔn)確 的 結(jié) 果 ，比常規(guī)的化學(xué)測(cè)試手段和方便。Genius5000手持式合金光譜分析儀測(cè)試時(shí)間是1~2秒,如果再延 長(zhǎng)幾秒鐘的測(cè)試時(shí)間,則可得出更準(zhǔn)確的實(shí)驗(yàn)室級(jí)別的測(cè) 試結(jié)果。無(wú)需制備樣品,從金屬細(xì)絲到成品焊點(diǎn),螺釘, 金屬板 ——所有這些樣品都可以被手持XRF合金城分析儀檢測(cè)
性能優(yōu)勢(shì)
性能堪比臺(tái)式機(jī)
小功率端窗一體化微型光管、大面積鈹窗SDD硅漂移探測(cè)器（世界上的探測(cè)器）及微型數(shù)字信號(hào)多道處理器核心技術(shù)的引入，大幅降低測(cè)試時(shí)間、提高檢測(cè)精度、減少測(cè)試誤差，使手持式儀器具有與臺(tái)式相近的測(cè)試性能。
小巧便攜、操作快捷
體積很小，便攜、方便野外工作。隨時(shí)隨地，隨心所欲的現(xiàn)場(chǎng)分析和原位分析。
無(wú)損檢測(cè)
整個(gè)檢測(cè)過(guò)程被測(cè)樣品無(wú)任何損壞
快速檢測(cè)
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