ROHS檢測儀產品詳細資料和技術參數介紹，ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導體探測器的高分辨力，對元素含量進行定性定量測試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質測試的檢測光譜儀
江蘇天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識產權的高科技企業，注冊資本46176萬。旗下擁有蘇州天瑞環境科技有限公司、北京邦鑫偉業技術開發有限公司、深圳市天瑞儀器有限公司、上海貝西生物科技有限公司、天瑞環境科技（仙桃）有限公司、四川天瑞環境科技有限公司六家全資子公司和江蘇國測檢測技術有限公司、上海磐合科學儀器股份有限公司、沁水璟盛生活垃圾全資源化有限公司三家控股子公司。總部位于風景秀麗的江蘇省昆山市陽澄湖畔。公司從事光譜、色譜、質譜等分析測試儀器及其軟件的研發、生產和銷售。

相比之前的傳統的ROHS檢測儀，雖然它們大多型號也能在原基礎升級為鹵素測試，但需在硬件和軟件上做較大的改動，且成本較高，目前市場上的能測ROHS和鹵素的儀器都是分體式設計，成本較高些，而天瑞的EDX1100在算法軟件上，將ROHS測試和鹵素測試一體化，兩者化二為一，等于是一個整體，在產品成本上大大得到了壓縮，也等于是直接讓利了客戶，相比之前分體式設計也能同時檢測ROHS和鹵素的機臺，EDX1100的一體化設計，成本至少降低了30%，EDX1100也采用的是新一代的鈹窗X大功率光管，壽命提高了5000小時，在應用上屬于通用于ROHS檢測儀器，廣泛應用于塑膠，五金，電子電器，化工等生產和制造領域環保臨測。
技術參數
測量元素范圍 ：硫（S）～鈾（U）測量時間：200S
檢出限：分析檢出限可達2ppm，薄可測試0.005μm含量范圍：1ppm～99.9%穩定性：0.01%管壓：5～50KV管流：≤1000uA探測器：SDD探測器，分辨率可達125eV準直器：6種準直器自動切換濾光片：5種濾光片自由切換樣品觀察：高清工業攝像頭環境濕度：≤70%環境溫度：15℃～30℃電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩壓電源）

對一些元素有很好的檢測下限以及精度。綜合應用FP法、網絡法、經驗系數法、基本參數法分析軟件。精心設計的開放性工作曲線功能，特別適用于多材料的工廠制程控制。
適用于：五金、接插件、電子，電氣，連接器，電鍍，PCB，塑料，皮革，鞋材等來料的ROHS分析，重金屬分析。
產品特點：
1、從硫（S）到鈾（U）的快速元素分析；
2、檢測靈敏度高；
3、測量時間短；
4、彩色CCD系統用于樣品圖像觀察；
5、有多種規格的準直器和濾光片選用，自動切換，滿足各種物質測試方式應用；
6、電制冷探測器，提高測量穩定性，提高分析的準確性，無需耗材；
7、機械結構簡單，可靠；
8、定性定量分析算法：FP基本算法，經驗系數法、網絡法、基本參數法；
9、全封閉式金屬機箱及防泄漏保護開關設計，更好地保障操作員的人身。流水線型外觀，美觀，儀器內部空間大樣品腔，儀器內部通風性優，并有效屏蔽電磁干擾；
10、超短光路設計，風冷型的X光管配套特有的光管管控程序程序，散熱更好，良好的散熱系統，更能保證儀器的超長使用，并能有效的X光管的壽命；
11、上照式：可滿足各種形狀樣品的測試需求，樣品成像準直系統，實現對樣品的準確點測；
12、自動譜線識別、多元素同時定性定量分析、讓用戶方便認識分析樣品的組成，設置了自動防護開關，以確保用戶使用。

EDX采用新一代的鈹窗X大功率光管，比市場上其它同類設備壽命提高了5000小時，為了壓縮成本，在產品結構優化和硬件上進一步高質設計，減少一些不必要的-客戶在實際使用中并用不上的軟硬件配置，很大程度上節省了產品的成本費用，使得成本降低20%多，直接讓利給客戶。成為市場上的暢銷型產品。成為很多小型工廠的。在應用上屬于通用型產品，應用于一切材料的ROHS和無鹵檢測，EDX5500對被檢測材料的種類，化學或物理性質都沒有限制，無論是成品，或半成品，無論是金屬，塑膠，皮革，化工，鞋材，合成料，固體，液體，粉末等，都能準確，無損，快速地檢測。EDX5500-ROHS檢測儀器，廣泛應用于塑膠，五金，電子電器，化工等生產和制造領域環保臨測。
技術參數
測量元素范圍 ：硫（S）～鈾（U）包含ROHS和鹵素的所有元素。可以準確定量。測量時間：200S
配新算法的ROHS分析軟件，鹵素分析軟件，材料成份分析軟件，軟件算法為德國。
檢出限：分析檢出限可達1ppm。含量范圍：1ppm～99.9%穩定性：0.01%管壓：5～50KV管流：≤1000uA探測器：SDD探測器，分辨率可達135eV準直器：10種準直器自動切換濾光片：6種濾光片自由切換樣品觀察：高清工業攝像頭環境濕度：≤70%環境溫度：15℃～30℃電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩壓電源）
分析原理：
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產生的相應電荷量；K為不同類型能量探測器的響應參數。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發源才能獲得。目前常規采用的激發源主要有射線光管和同位素激發源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術，并對獲得的強度進行相關的譜分析和數據處理。
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