ROHS檢測(cè)儀產(chǎn)品詳細(xì)資料和技術(shù)參數(shù)介紹，ROHS檢測(cè)儀報(bào)價(jià)和配置請(qǐng)咨詢(xún)江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環(huán)保鹵素rohs檢測(cè)儀報(bào)價(jià)。利用大功率X射線管和半導(dǎo)體探測(cè)器的高分辨力，對(duì)元素含量進(jìn)行定性定量測(cè)試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質(zhì)測(cè)試的檢測(cè)光譜儀
天瑞產(chǎn)品--信噪比增強(qiáng)器（SNE），提高信號(hào)處理能力25倍以上。
EDX1800B 規(guī)格參數(shù)
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達(dá)1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99％
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1％（含量96％以上）
長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性為0.1％（含量96％以上）
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃

抽真空的ROHS檢測(cè)儀和其它的非抽真空的ROHS檢測(cè)儀大的區(qū)別在于其多了一個(gè)真空泵的配置，在其檢測(cè)環(huán)鏡里是真空的狀態(tài)，這減少了空氣對(duì)一些輕元素的干擾，提高了檢測(cè)限，也提高的檢測(cè)的精準(zhǔn)度和穩(wěn)定性。
抽真空EX7900參數(shù)：
產(chǎn)品型號(hào)：EDX 7900
產(chǎn)品名稱(chēng)：X熒光光譜儀 測(cè)量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素，分析范圍不同） 同時(shí)分析元素：一次性可測(cè)幾十種元素 分析精度：0.05% （含量高于96%以上的樣品、21次測(cè)試穩(wěn)定性） 測(cè)量時(shí)間：30秒-200秒 探測(cè)器能量分辨率為：145±5eV管壓：5KV-50KV 管流：50μA-1000μA測(cè)量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體、液體輸入電壓：AC 110V/220V環(huán)境溫度：15℃-30℃ 環(huán)境濕度：35%-70%樣品腔體積：320mm×100mm外形尺寸：660mm×510mm×350mm重量：65Kg
硬件配置
超薄窗X光管 SDD硅漂移探測(cè)器 數(shù)字多道技術(shù)信噪比增強(qiáng)器 SNE光路增強(qiáng)系統(tǒng) 高信噪比電子線路單元 內(nèi)置高清晰攝像頭 自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片 自動(dòng)穩(wěn)譜裝置 三重安全保護(hù)模式 可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu)90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏真空泵
應(yīng)用領(lǐng)域
ROHS檢測(cè)，無(wú)鹵檢測(cè)，合金檢測(cè)、全元素成份分析、有害元素檢測(cè)（RoHS、鹵素

天瑞ROHS檢測(cè)儀
產(chǎn)品介紹  EDX1800B 圖片 產(chǎn)品 天參數(shù)
應(yīng)用領(lǐng)域
RoHS檢測(cè)分析 
地礦與合金（銅、不銹鋼等）成分分析 
金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定 
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種飾的含量檢測(cè) 
主要用于RoHS指令相關(guān)行業(yè)、貴金屬加工和飾加工行業(yè)；銀 
行，飾銷(xiāo)售和檢測(cè)機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)
性能優(yōu)勢(shì)
下照式：可滿足各種形狀樣品的測(cè)試需求 
準(zhǔn)直器和濾光片：多種準(zhǔn)直器和濾光片的電動(dòng)切換，滿足各種測(cè)試方式的應(yīng)用 
移動(dòng)平臺(tái)：精細(xì)的手動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)，方便定位測(cè)試點(diǎn) 
高分辨率探測(cè)器：提高分析的準(zhǔn)確性 
新一代的高壓電源和X光管：性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率 
檢測(cè)75種元素·1ppm檢出限·重復(fù)性0.05%·穩(wěn)定性0.05%
新一代光管良好的屏蔽作用，X射線的水平與普通大氣環(huán)境狀態(tài)下相等 
性能穩(wěn)定可靠，高達(dá)50W的功率實(shí)現(xiàn)更高的測(cè)試效率 
儀器上蓋的測(cè)試自鎖和高壓電源緊急鎖功能，帶給您防護(hù)
技術(shù)參數(shù)
元素分析范圍：硫（S）~ 鈾（U） 
分析檢出限：1ppm
分析含量：ppm ~ 99.99％ 
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型 
相互立的基體效應(yīng)校正模型 
多變量非線性回歸程序 
溫度適應(yīng)范圍：15℃ ~ 30℃ 
電源：交流220V±5V，建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源 
能量分辨率：144±5eV
樣品腔尺寸：439mm×300mm×50mm
儀器尺寸：550mm×410mm×320mm
儀器重量：45kg
儀器配置
移動(dòng)樣品平臺(tái) 
移動(dòng)樣品平臺(tái) 
信噪比增強(qiáng)器 
SDD探測(cè)器 
信號(hào)檢測(cè)電子電路 
高低壓電源 
大功率X光管 
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī)
江蘇天瑞儀器股份有限公司已擁有遍布全國(guó)的三十多個(gè)技術(shù)服務(wù)網(wǎng)點(diǎn)和全球100多家代理機(jī)構(gòu)，我們的服務(wù)遍布全球每一個(gè)角落。公司成立的客戶(hù)服務(wù)中心，免費(fèi)服務(wù)熱線，即時(shí)快速的解決客戶(hù)問(wèn)題，4小時(shí)響應(yīng)，上門(mén)服務(wù)。江蘇天瑞儀器股份有限公司主營(yíng)產(chǎn)品：ROHS檢測(cè)儀EDX1800b環(huán)保測(cè)試、X射線鍍層測(cè)厚儀Thick800A、火花光電直讀光譜儀OES1000、手持式光譜儀Genius5000、等離子光譜儀ICP2060T以及EDX3600B、EDX3000、EDX4500、EDX3600H、EDX3600L、EDX3000plus、EDX2800、EDX9000、EDX2000H、EDXXRF、WDX200、WDX400、genius3000、genius5000、genius7000、genius9000、SUPER XRF1050、質(zhì)譜聯(lián)用儀：等離子體質(zhì)譜儀ICP-MS2000、氣質(zhì)聯(lián)用儀GC-MS6800、液質(zhì)聯(lián)用儀LC-MS1000、糧食鎘大米重金屬快速分析儀等！

EDX5600是國(guó)內(nèi)應(yīng)用多的一款設(shè)備，除了較高的性?xún)r(jià)比外，其更人性化的設(shè)計(jì)軟硬件，使其在電子電器，通訊制造，家電配件，塑膠，五金等領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用，采用新一代的鈹窗X大功率光管，壽命提高了5000小時(shí)，在應(yīng)用上屬于通用型ROHS檢測(cè)儀器。
技術(shù)參數(shù)
測(cè)量元素范圍 ：硫（S）～鈾（U） 可以測(cè)量包括ROHS鹵素元素外的70多種元素。
有ROHS分析軟件，只針對(duì)ROHS六項(xiàng)測(cè)試和鹵素元素測(cè)試的窗口。一健式操作。
測(cè)試時(shí)間可人為設(shè)置，可短或長(zhǎng)。一般測(cè)量時(shí)間：60S-200S
檢出限：分析檢出限可達(dá)2ppm，薄可測(cè)試0.005μm 檢出限2PPM的意思是低于2PPM的含量就檢不出來(lái)。含量范圍：1ppm～99.9%穩(wěn)定性：0.01% 管壓：5～50KV管流：≤1000uA探測(cè)器：半導(dǎo)體電子制冷探測(cè)器，分辨率可達(dá)165eV準(zhǔn)直器：8種準(zhǔn)直器自動(dòng)切換濾光片：4種濾光片自由切換樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭環(huán)境濕度：≤70%環(huán)境溫度：15℃～30℃電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）
分析原理：
ROHS檢測(cè)儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過(guò)測(cè)定角度，即可獲得待測(cè)元素的譜線波長(zhǎng)：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長(zhǎng)；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長(zhǎng)，從而獲得待測(cè)元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器，通過(guò)測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量，直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；K為不同類(lèi)型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過(guò)測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特息。
待測(cè)元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對(duì)獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
http://www.zxqc92003.cn