手持式光譜儀分析原理和性能介紹，手持式光譜儀技術參數和配置報價請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司是分析儀器制造廠商，研制的explorer5000手持式光譜儀操作簡單，質量穩定，用于金屬合金材料檢測，礦石元素成分分析，土壤重金屬含量測試，rohs鹵素快速篩選，鍍層厚度分析測量等領域。
技術參數
測量元素范圍：鎂（Mg）到鈾（U）之間的元素均可測量
同時檢測元素：數幾十種元素可同時分析
處理器和內存：CPU：667MHz,內存：256M，擴展存儲大支持32G，可以海量存儲數據和譜圖達20000個。
含量范圍：ppm～99.99
檢測時間：2-30秒
GPS、WIFI：內置系統
電池使用時間：可充電鋰電池，電池大電量7800mAH,可持續工作8小時以上；配有寬電壓110V-220V通用適配器，可交流供電使用。
檢測對象：固體、液體、粉末
探測器：25mm2 0.3mil，SDD探測器
探測器分辨率：分辨率145±5eV
激發源：50KV/100uA-銀靶端窗一體化微型X光管及高壓電源
準直器和濾光片：直徑4.0和2.0mm準直器，6種濾光片組合自動切換，12種組合，世界上多的組合方式，可滿足各種類樣品的測試
冷卻系統：冷卻系統，保證儀器的精度，延長使用壽命
防：不含同位素激發源，環保性能強；X射線劑量≤0.06μsv/h
檢測對象：固體、液體、粉末
測試支架：儀器可選配自旋功能的測試支架，使得測試更方便，結果更可靠
視頻系統：高清晰攝像頭
顯示屏：半透半反式高亮度VGA彩色觸摸屏，其分辨率是640*480
檢出限：低檢出限達ppm級
性：自帶密碼管理員模式，數據可隨意保存
可充氣系統：常壓充氦氣系統
數據傳輸：數字多道技術，SPI數據傳輸，快速分析，高計數率；
防水迷你USB，并且可以外接臺式電腦，具有USB、232串口、存儲卡、無線藍牙
操作環境濕度：≤95
操作環境溫度：-20℃～+50℃
儀器外形尺寸：234×306×82mm（L×H×W）
儀器重量：1.9Kg（配備電池），1.6Kg（無電池）

儀器應用領域優勢
檢測元素：同時檢測汞、鎘、鉛、、銅、鋅、鎳、鈷、釩、鉻、錳等元素，可根據客戶需求定制增加檢測元素
性：重金屬分析軟件，采用智能一鍵測試和智能判斷功能
可對污染土壤中的汞、鎘、鉛、、銅、鋅、鎳、鈷、釩、鉻、錳等重金屬元素進行有效檢測，還可根據客戶需求定制增加檢測元素。
土壤重金屬普查
內置GPS功能，在野外可隨時搜索衛星信號，確定取樣點的地理位置信息，快速普查超大范圍的土壤地質污染區，建立污染地圖，實時各區域的污染情況。對各類農業用地、居住用地、商業用地、工業用地等級進行重金屬污染環境評價。
土壤重金屬污染后的應急處理
常用于污染事件發生后的應急處理。能快速、現場追蹤污染異常，有效尋找“污點”地帶，圈定污染區域邊界，進行實時勘察
助力污染區土壤修復
對污染地帶進行等級劃分，圈定重點土壤污染區，按照劃分好的區域進行重點優選治理，提高篩查效率，并實時污染區的土壤修復情況。

天瑞在已掌握的成熟的臺式X射線熒光光譜儀技術為基礎，結合國外相關新的技術發展成果，以國際現有的商品化手持式X射線熒光光譜儀為性能目標，在手持式一代、二代和三發基礎上，加入了全新的元素，研制出具有自主知識產權的，滿足市場需求的智能、便攜式的Genius XRF 手持式四代X熒光分析儀系列產品。新一代Genius XRF系列是針對在現場，野外進行X熒光分析的應用而設計，具有體積小，重量輕，普通人可手持測量的特點；產品超小、超輕、超美、超、超方便、超長待機時間、超防水、超準、超快等特點，并在小型X射線儀上引入了數字多道技術，使儀器檢出限更好，穩定性更高，適用面更廣。產品包括有害元素分析儀Genius 3000XRF，合金分析儀Genius 5000XRF，礦石分析儀Genius 7000XRF，土壤重金屬分析儀Genius 9000XRF等一系列型號，可充分滿足從原料檢測，生產過程控制到成品檢驗中各種元素成分的現場在線分析，金屬材料的可靠性鑒別和合號快速識別，土壤重金屬現場檢測，各類地質礦樣的野外原位多元素分析等市場需求。該系列產品通過嚴格檢測和驗證，各項指標均符合相關技術要求，技術達國際水平。產品已開始批量銷售于國內外市場，受到客戶的**，打破國外廠家的壟斷。

便攜式涂層測厚儀產品介紹
應用領域：
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和飾加工行業；銀行，飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
天瑞儀器是金屬鍍層測厚儀之一，另外兩個分部是費希爾和牛津。天瑞的thick800a是性價比好的金屬測厚儀，能夠滿足各種金屬層不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求，φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求，高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自動定位測試高度，定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊，鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置是被測點，高分辨率探頭使分析結果更加。
公司主要產品：
X射線熒光光譜儀（能量色散型與波長色散型）（XRF）、電感耦合等離子體發射光譜儀（ICP）、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計（AAS）、光電直讀光譜儀（OES）、氣相色譜儀（GC）\液相色譜儀(LC)、能譜儀（EDS）\高頻紅外碳硫儀（CS-Analyer）、礦漿載流在線采樣儀（OSE）……….
產品應用領域：
電子電器（ROSH等）、珠寶飾（貴金屬及鍍層等）、玩具（EN71-3等）、建材（水泥、玻璃、陶瓷）、冶金（鋼鐵鉬精礦、其他黑色及有色金屬等）、地質采礦、塑膠（無鹵測試等）、石油（微量元素S、Pb等）、化工、高嶺土、煤炭、不銹鋼、食品、醫藥、空氣、水質、土壤、衛生防疫、商品防疫、質量檢驗、人體微量元素檢驗
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