ROHS檢測(cè)儀產(chǎn)品詳細(xì)資料和技術(shù)參數(shù)介紹，ROHS檢測(cè)儀報(bào)價(jià)和配置請(qǐng)咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環(huán)保鹵素rohs檢測(cè)儀報(bào)價(jià)。利用大功率X射線管和半導(dǎo)體探測(cè)器的高分辨力，對(duì)元素含量進(jìn)行定性定量測(cè)試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質(zhì)測(cè)試的檢測(cè)光譜儀
隨著環(huán)境意識(shí)和健康意識(shí)的提高，人們對(duì)于汽車行業(yè)中有害元素和有機(jī)污染物的關(guān)注不斷增加。歐盟會(huì)和歐洲議會(huì)為保護(hù)環(huán)境、減少車輛報(bào)廢產(chǎn)生的廢棄物制定了ELV（End-of-Life Vehicle）即報(bào)廢車輛指令，明確規(guī)定2003年7月以后生產(chǎn)的汽車禁用鉛、鎘、汞和六價(jià)鉻四種有害物。2012年3月1日，國(guó)家環(huán)保部與質(zhì)檢總局聯(lián)合發(fā)布了GB/T 27630《乘用車內(nèi)空氣質(zhì)量評(píng)價(jià)指南》，明確規(guī)定了車內(nèi)空氣中有關(guān)苯、、二、乙苯、苯乙烯、、乙醛、8種常見的車內(nèi)揮發(fā)性有機(jī)物濃度的限值。給客戶提供一個(gè)更加健康舒適的乘車環(huán)境，是對(duì)汽車生產(chǎn)制造企業(yè)的必然要求。
天瑞儀器為分析儀器的，一直致力于為客戶提供更加的產(chǎn)品和更加滿意的服務(wù)。天瑞儀器針對(duì)汽車行業(yè)測(cè)試需求（有害元素分析、有機(jī)污染物分析、合金材料分析、涂覆層厚度測(cè)試）給出相應(yīng)的測(cè)試方案。
一、有害元素分析
歐盟議會(huì)和理事會(huì)在2000年9月18日頒布了“2000/53/EC關(guān)于報(bào)廢汽車的技術(shù)指令”，規(guī)定在2003年7月以后，原則上要求汽車材料不能含有鉛、汞、鎘和六價(jià)鉻四種有害物。這是全球?qū)ζ嚥牧虾亟饘賳栴}進(jìn)行規(guī)范。此后，歐盟相繼頒布了“2002/525/EC”和“2005/673/EC”技術(shù)指令，對(duì)原“2000/53/EC”技術(shù)指令附錄二中有關(guān)重金屬禁用的豁免條款進(jìn)行了修訂，終形成了歐盟對(duì)汽車產(chǎn)品重金屬禁用的技術(shù)法規(guī)體系。

技術(shù)指標(biāo):
元素分析范圍：硫（S）～鈾（U） 
分析含量：0.1ppm～99.9
重復(fù)性：0.1
穩(wěn)定性：0.1
環(huán)境溫度：15℃～30℃ 
電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）
儀器配置:
超銳X光源和樣品激發(fā)機(jī)構(gòu) 
上蓋電動(dòng)開關(guān)的大容量樣品腔 
可自動(dòng)切換的準(zhǔn)直器，濾光片 
高清晰CCD攝像頭 
Si-PIN探測(cè)器 
信號(hào)檢測(cè)電子電路 
高低壓電源 
計(jì)算機(jī)及噴墨打印機(jī) 
X熒光分析軟件

天瑞產(chǎn)品--信噪比增強(qiáng)器（SNE），提高信號(hào)處理能力25倍以上。
EDX1800B 規(guī)格參數(shù)
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達(dá)1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型
相互的基體效應(yīng)校正模型
多變量非線性回歸程序
多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá)0.1（含量96以上）
長(zhǎng)期工作穩(wěn)定性為0.1（含量96以上）
溫度適應(yīng)范圍為15℃至30℃

ROHS檢測(cè)儀主要性能優(yōu)勢(shì)：
1、采用激發(fā)X光源，樣品激發(fā)結(jié)構(gòu)和探測(cè)系統(tǒng)，提高儀器元素的檢測(cè)靈敏度（降低檢出限）；
2、具有現(xiàn)代化的外觀，結(jié)構(gòu)和色彩，上蓋電動(dòng)控制開關(guān)，更人性化；
3、準(zhǔn)直器，濾光片自動(dòng)切換，可適應(yīng)不同的樣品測(cè)試要求；
4、大容量的樣品腔和高清攝像頭，樣品測(cè)量更靈活方便；
5、配備功能齊全的測(cè)試軟件。
分析原理：
ROHS檢測(cè)儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測(cè)元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測(cè)定角度，即可獲得待測(cè)元素的譜線波長(zhǎng)：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長(zhǎng)；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級(jí)次。利用測(cè)角儀可以測(cè)得分析譜線的衍射角，利用上式可以計(jì)算相應(yīng)被分析元素的波長(zhǎng)，從而獲得待測(cè)元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測(cè)器，通過測(cè)定由探測(cè)器收集到的電荷量，直接獲得被測(cè)元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測(cè)器產(chǎn)生的相應(yīng)電荷量；K為不同類型能量探測(cè)器的響應(yīng)參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測(cè)定電荷量可得到待測(cè)元素的特息。
待測(cè)元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術(shù)，并對(duì)獲得的強(qiáng)度進(jìn)行相關(guān)的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
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