ROHS檢測儀產(chǎn)品詳細資料和技術參數(shù)介紹，ROHS檢測儀報價和配置請咨詢江蘇天瑞儀器股份有限公司提供edx1800B環(huán)保鹵素rohs檢測儀報價。利用大功率X射線管和半導體探測器的高分辨力，對元素含量進行定性定量測試的熒光光譜儀，是適合ROHS指令有害物質測試的檢測光譜儀
如何選擇ROHS檢測儀呢？作為的 rohs檢測儀生產(chǎn)商，可以從以下幾方面入手考慮，
 先要考察公司的實力，與購買其他產(chǎn)品一樣，要購買XRF，我們需要了解該是不是在RoHS指令期間出現(xiàn)。我們都知道儀器技術依賴于積累和沉淀，如果這個公司沒有長時間的技術積累，只是為RoHS而生。沒有市場認可度很可能突然蒸發(fā)，用戶將做什么以及誰將負責服務？ 
  除了測試RoHS指令測量的元素外，儀器的某些XRF還具有其他功能。有XRF還具有厚度測量功能。以及其它成分的分析。
儀器的性能是購買儀器非常重要的指標。為什么儀器的價格相差較大，主要原因是儀器的心臟，探測器
探測器分辨率的高低決定了儀器的價格和主要性能

rohs檢測儀器的原理是利用x射線熒光技術進行元素含量分析的儀器，待測樣品被x射線激發(fā)產(chǎn)生熒光，每種元素具有特定的熒光能量值。半導體探測技術可以檢測到熒光值，結合現(xiàn)代計算機技術，通過復雜的數(shù)學函數(shù)，算出待測物品的元素含量。
特的激發(fā)X光源
激光X光源、樣品激發(fā)裝置和探測系統(tǒng)，大大提高儀器元素的檢測靈敏度，降低檢出限。
性能、微量X熒光檢出
采用特的光路設計和雙引擎設計，并結合使用多組濾片和多組光管激發(fā)材的切換，大大地降低了儀器的信噪比，使該儀器在X熒光設備中具有的元素檢出限。
大器穩(wěn)重、準確無損
大樣品腔設計，適合于不同大小和形狀的樣品測試。采用了多重信號的電路處理和濾波技術，使測試更加穩(wěn)定準確。
自動化程度高、高清攝像頭
儀器多組濾片和光路自動切換，自動升降測試蓋，高清攝像頭。

EDX采用新一代的鈹窗X大功率光管，比市場上其它同類設備壽命提高了5000小時，為了壓縮成本，在產(chǎn)品結構優(yōu)化和硬件上進一步高質設計，減少一些不必要的-客戶在實際使用中并用不上的軟硬件配置，很大程度上節(jié)省了產(chǎn)品的成本費用，使得成本降低20多，直接讓利給客戶。成為市場上的暢銷型產(chǎn)品。成為很多小型工廠的。在應用上屬于通用型產(chǎn)品，應用于一切材料的ROHS和無鹵檢測，EDX5500對被檢測材料的種類，化學或物理性質都沒有限制，無論是成品，或半成品，無論是金屬，塑膠，皮革，化工，鞋材，合成料，固體，液體，粉末等，都能準確，無損，快速地檢測。EDX5500-ROHS檢測儀器，廣泛應用于塑膠，五金，電子電器，化工等生產(chǎn)和制造領域環(huán)保臨測。
技術參數(shù)
測量元素范圍 ：硫（S）～鈾（U）包含ROHS和鹵素的所有元素。可以準確定量。測量時間：200S
配新算法的ROHS分析軟件，鹵素分析軟件，材料成份分析軟件，軟件算法專利為德國。
檢出限：分析檢出限可達1ppm。含量范圍：1ppm～99.9穩(wěn)定性：0.01管壓：5～50KV管流：≤1000uA探測器：SDD探測器，分辨率可達135eV準直器：10種準直器自動切換濾光片：6種濾光片自由切換樣品觀察：高清工業(yè)攝像頭環(huán)境濕度：≤70環(huán)境溫度：15℃～30℃電源：交流220V±5V（建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源）

天瑞產(chǎn)品--信噪比增強器（SNE），提高信號處理能力25倍以上。
EDX1800B 規(guī)格參數(shù)
外觀尺寸： 550×416×333mm
樣品腔尺寸：460×298×98mm
重量：45Kg
元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）
分析檢出限可達1ppm
分析含量一般為1ppm到99.99
任意多個可選擇的分析和識別模型
相互的基體效應校正模型
多變量非線性回歸程序
多次測量重復性可達0.1（含量96以上）
長期工作穩(wěn)定性為0.1（含量96以上）
溫度適應范圍為15℃至30℃
分析原理：
ROHS檢測儀是X射線熒光光譜儀，其分析原理也是X射線熒光光譜儀的分析原理。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據(jù)Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：
nλ=2dsinaθ （n=1,2,3…）
式中 ，λ為分析譜線波長；d為晶體的晶格間距；θ為衍射角；n為衍射級次。利用測角儀可以測得分析譜線的衍射角，利用上式可以計算相應被分析元素的波長，從而獲得待測元素的特息。
能量色散射線熒光光譜儀則采用能量探測器，通過測定由探測器收集到的電荷量，直接獲得被測元素發(fā)出的特征射線能量：
Q=KE
式中，K為入射射線的光子能量；Q為探測器產(chǎn)生的相應電荷量；K為不同類型能量探測器的響應參數(shù)。電荷量與入射射線能量成正比，故通過測定電荷量可得到待測元素的特息。
待測元素的特征譜線需要采用一定的激發(fā)源才能獲得。目前常規(guī)采用的激發(fā)源主要有射線光管和同位素激發(fā)源等。
為獲得樣品的定性和定量信息，除光譜儀外，還必須采用一定的樣品制備技術，并對獲得的強度進行相關的譜分析和數(shù)據(jù)處理。
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