開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
作為國內化學分析行業的，擁有多年累積的分析測試儀器的技術和實力，產品廣泛應用于有色金屬行業中的地質考察、礦產、冶煉、加工、實驗室研究、生產制造等環節。作為此次會議的協辦方，還特地安排了學者們來公司參觀考察，天瑞儀器總經理應剛熱情的接待了考察團一行。

測厚儀
測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業生產中常用來連續或抽樣測量產品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。
這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的厚度計；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。

昆山市市場局通過走訪座談、問卷調查等方式，篩選了多家企業，選取了天瑞儀器作為商業秘密示范點建設單位。會上，市場局就我公司成為昆山商業秘密保護示范點給予了充分肯定和高度評價，并為構建完善的商業秘密保護系統提出了寶貴的意見和建議，旨在進一步加強對商業秘密的管理，以促進我公司健康、穩步、飛躍發展。

測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。
測量注意事項：
⒈在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。
⒉測量時側頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數。
⒏在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附著物質。
2011年5月18日，天瑞儀器董事長劉召貴博士喜獲津貼。
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