開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機
天瑞儀器一直以來都是以客戶需求為出發(fā)點，解決客戶的后顧之憂。通過此次會議，不僅加強了多方聯(lián)系，獲得面對面交流的機會，同時也提高了用戶的操作水平，解決了用戶在日常操作中遇到的問題，幫助用戶更好的使用儀器。

測厚儀
測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。
這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的厚度計；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。

電鍍行業(yè)綜合解決方案

    電鍍是國民經(jīng)濟中必不可少的基礎工藝性行業(yè)，同時又是重污染行業(yè)。電鍍所帶來的廢氣、廢水、廢渣嚴重地影響人們的生活與健康。要提高電鍍企業(yè)的實力就必須從企業(yè)的硬件著手。而內(nèi)部管控測試是必不可少的環(huán)節(jié)，其中產(chǎn)品膜厚檢測、RoHS有害元素檢測、電鍍液分析、電鍍工業(yè)廢水、廢渣中的重金屬檢測和水質(zhì)在線檢測等更是重中之重。為此江蘇天瑞儀器股份有限公司基于強大的研發(fā)和應用能力特別為電鍍行業(yè)制定了一套有效的測試解決方案。

鍍層膜厚檢測：有效進行鍍層厚度的產(chǎn)品質(zhì)量管控
電鍍液分析：檢測電鍍液成分及濃度，確保鍍層質(zhì)量
水質(zhì)在線監(jiān)測：有效監(jiān)測電鍍所產(chǎn)生的工業(yè)廢水中的有害物質(zhì)含量，已達到排放標準
RoHS有害元素檢測：為電鍍產(chǎn)品符合RoHS標準，嚴把質(zhì)量關
重金屬及槽液雜質(zhì)檢測：有效檢測電鍍成品，以及由電鍍所產(chǎn)生的工業(yè)廢水、廢物中的重金屬含量

2、 天瑞儀器有限公司生產(chǎn)的能量色散X熒光光譜儀系列在電鍍檢測行業(yè)中， 針對上述五項需求的應用：

(1)、對鍍層膜厚檢測、電鍍液分析可分析；
(2)、對RoHS有害元素檢測、重金屬檢測、槽液雜質(zhì)檢測、水質(zhì)在線監(jiān)測可進行快速檢測，檢測環(huán)境里的重金屬是否超標。
同時具有以下特點
快速：1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求。
方便：X熒光光譜儀部分機型采用進口國際上的電制冷半導體探測器，能量分辨率更優(yōu)于eV，測試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補充液氮，操作使用更加方便，并且運行成本比同類的其他產(chǎn)品更低。
無損：測試前后，樣品無任何形式的變化。
直觀：實時譜圖，可直觀顯示元素含量。
測試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學結合狀態(tài)無關。對在化學性質(zhì)上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。
可靠性高：由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復性與穩(wěn)定性很高。所以，其測量的可靠性更高。
滿足不同需求：測試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強大，軟件可儀器狀態(tài)，設定儀器參數(shù)，并就有多種的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
性價比高：相比化學分析類儀器，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。
簡易：對人員技術要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。

3、天瑞一直致力于分析儀器事業(yè)，相信天瑞會為電鍍行業(yè)的客戶提供有競爭力的解決方案和服務。

    天瑞儀器作為一個集儀器研發(fā)、系統(tǒng)設計、產(chǎn)品生產(chǎn)、服務提供為一身的綜合性儀器供應廠商，一直以來嚴格遵循“360°服務”的客戶服務理念，以提高顧客滿意度為根本目標，從服務力量、服務流程、服務內(nèi)容等各個方面為客戶提供的服務。
    我公司為客戶提供技術、方案設計、技術交流、產(chǎn)品制造、系統(tǒng)集成、現(xiàn)場勘察、工程實施、技術培訓、服務、故障處理、、巡檢等全過程、、全系列的服務。這些不僅讓客戶體驗到天瑞儀器高質(zhì)量的服務，更為客戶創(chuàng)造了更高的價值。
“快速、準確、到位”的服務
短交貨時間
快安裝
短維修周期
長保修期
個性化服務
維護費用

測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。
測量注意事項：
⒈在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。
⒉測量時側頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時要注意不要在內(nèi)轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。
⒏在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附著物質(zhì)。
2011年4月25日，天瑞儀器推出SUPER XRF 2400，其超微量元素檢測的特功能將傳統(tǒng)XRF性能提升數(shù)倍。
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