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膜厚儀 x熒光測(cè)厚儀
  • 膜厚儀 x熒光測(cè)厚儀
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產(chǎn)品描述

分析范圍0-50微米 分析精度5 較薄測(cè)試0.005微米 儀器架構(gòu)上照式 儀器重量90公斤 分析時(shí)間30S
滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測(cè)試需求
φ0.1mm的小孔準(zhǔn)直器可以滿足微小測(cè)試點(diǎn)的需求
高精度移動(dòng)平臺(tái)可定位測(cè)試點(diǎn),重復(fù)定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自動(dòng)定位測(cè)試高度
定位激光確定定位光斑,確保測(cè)試點(diǎn)與光斑對(duì)齊
鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái),鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)
高分辨率探頭使分析結(jié)果更加
良好的射線屏蔽作用
測(cè)試口高度敏感性傳感器保護(hù)
作為國(guó)內(nèi)化學(xué)分析行業(yè)的,擁有多年累積的分析測(cè)試儀器的技術(shù)和實(shí)力,產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于有色金屬行業(yè)中的地質(zhì)考察、礦產(chǎn)、冶煉、加工、實(shí)驗(yàn)室研究、生產(chǎn)制造等環(huán)節(jié)。作為此次會(huì)議的協(xié)辦方,還特地安排了學(xué)者們來公司參觀考察,天瑞儀器總經(jīng)理應(yīng)剛熱情的接待了考察團(tuán)一行。
膜厚儀
為了更好的服務(wù)客戶,保障用戶儀器的良好性能。2021年3月19日,由江蘇天瑞儀器股份有限公司(以下簡(jiǎn)稱天瑞儀器)舉辦的客戶培訓(xùn)會(huì)議在浙江省寧波市陽(yáng)光豪生大酒店舉行。
      本次培訓(xùn)會(huì)采用理論知識(shí)與現(xiàn)場(chǎng)實(shí)際操作相結(jié)合的形式,旨在提高用戶對(duì)天瑞儀器產(chǎn)品應(yīng)用操作及后期運(yùn)維的能力,讓大家在實(shí)際操作中得心應(yīng)手。來自浙江地區(qū)的近百位用戶積極參加。現(xiàn)場(chǎng)進(jìn)行培訓(xùn)的儀器有EDX1800B能量色散X熒光光譜儀、THICK800A X熒光鍍層測(cè)厚儀、GCMS6800氣相色譜質(zhì)譜聯(lián)用儀、LC310液相色譜系統(tǒng)、OES8000S直讀光譜儀以及環(huán)境試驗(yàn)箱操作培訓(xùn)。
根據(jù)客戶實(shí)際需求,培訓(xùn)節(jié)奏緊湊且具針對(duì)性,天瑞儀器技術(shù)們通過精心授課,現(xiàn)場(chǎng)操作教習(xí),為參會(huì)人員提供了的學(xué)習(xí)機(jī)會(huì),使其能夠正確、的使用儀器。
膜厚儀
測(cè)厚儀產(chǎn)品特性
★進(jìn)口高精度傳感器,保證了測(cè)試精度
★嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測(cè)量壓力,同時(shí)支持各種非標(biāo)定制
★測(cè)量頭自動(dòng)升降,避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
★手動(dòng)、自動(dòng)雙重測(cè)量模式,更方便客戶選擇
★配備微型打印機(jī),數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印,方便快捷地獲取測(cè)試結(jié)果
★打印值、小值、平均值及每次測(cè)量結(jié)果,方便用戶分析數(shù)據(jù)
★儀器自動(dòng)保存多100組測(cè)試結(jié)果,隨時(shí)查看并打印
★標(biāo)準(zhǔn)量塊標(biāo)定,方便用戶快速標(biāo)定設(shè)備
★測(cè)厚儀配備自動(dòng)進(jìn)樣器,可一鍵實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量,人為誤差小
★軟件提供測(cè)試結(jié)果圖形統(tǒng)計(jì)分析,準(zhǔn)確直觀地將測(cè)試結(jié)果展示給用戶
★配備標(biāo)準(zhǔn)RS232接口,方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸
膜厚儀
測(cè)厚儀的測(cè)試方法主要有:磁性測(cè)厚法,放射測(cè)厚法,電解測(cè)厚法,渦流測(cè)厚法,超聲波測(cè)厚法。
測(cè)量注意事項(xiàng):
⒈在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意標(biāo)準(zhǔn)片集體的金屬磁性和表面粗糙度應(yīng)當(dāng)與試件相似。
⒉測(cè)量時(shí)側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測(cè)量時(shí)要注意基體金屬的臨界厚度,如果大于這個(gè)厚度測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測(cè)量時(shí)要注意試件的曲率對(duì)測(cè)量的影響。因此在彎曲的試件表面上測(cè)量時(shí)不可靠的。
⒌測(cè)量前要注意周圍其他的電器設(shè)備會(huì)不會(huì)產(chǎn)生磁場(chǎng),如果會(huì)將會(huì)干擾磁性測(cè)厚法。
⒍測(cè)量時(shí)要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測(cè)量,因?yàn)橐话愕臏y(cè)厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測(cè)量時(shí)要保持壓力的恒定,否則會(huì)影響測(cè)量的讀數(shù)。
⒏在進(jìn)行測(cè)試的時(shí)候要注意儀器測(cè)頭和被測(cè)試件的要直接接觸,因此超聲波測(cè)厚儀在進(jìn)行對(duì)側(cè)頭清除附著物質(zhì)。
2011年5月18日,天瑞儀器董事長(zhǎng)劉召貴博士喜獲津貼。
http://www.zxqc92003.cn
產(chǎn)品推薦

Development, design, production and sales in one of the manufacturing enterprises

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