測試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學結合狀態(tài)無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。
可靠性高：由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復性與穩(wěn)定性很高。所以，其測量的可靠性更高。
滿足不同需求：測試軟件為WINDOWS操作系統(tǒng)軟件，操作方便、功能強大，軟件可儀器狀態(tài)，設定儀器參數，并就有多種的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
性價比高：相比化學分析類儀器，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優(yōu)勢的，可以讓更多的企業(yè)和廠家接受。
簡易：對人員技術要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。
昆山市市場局通過走訪座談、問卷調查等方式，篩選了多家企業(yè)，選取了天瑞儀器作為商業(yè)秘密示范點建設單位。會上，市場局就我公司成為昆山商業(yè)秘密保護示范點給予了充分肯定和高度評價，并為構建完善的商業(yè)秘密保護系統(tǒng)提出了寶貴的意見和建議，旨在進一步加強對商業(yè)秘密的管理，以促進我公司健康、穩(wěn)步、飛躍發(fā)展。

測厚儀
測厚儀是用來測量材料及物體厚度的儀表。在工業(yè)生產中常用來連續(xù)或抽樣測量產品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。
這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。

測厚儀的測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。
測量注意事項：
⒈在進行測試的時候要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。
⒉測量時側頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時要注意不要在內轉角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的測厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數。
⒏在進行測試的時候要注意儀器測頭和被測試件的要直接接觸，因此超聲波測厚儀在進行對側頭清除附著物質。

天瑞儀器一直以來都是以客戶需求為出發(fā)點，解決客戶的后顧之憂。通過此次會議，不僅加強了多方聯(lián)系，獲得面對面交流的機會，同時也提高了用戶的操作水平，解決了用戶在日常操作中遇到的問題，幫助用戶更好的使用儀器。
2013年4月19日，天瑞連續(xù)第五年蟬聯(lián)“具影響力廠商”，EDX-P730手持式X熒光光譜儀蟬聯(lián)“年度受關注儀器”。
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