技術性能及指標

1.   分光室設計

  帕邢-龍格結構,羅蘭圓直徑400mm

  波長范圍140 – 680nm

  像素分辨率10pm

  恒溫33℃±0.2℃

  材質鑄造，保證光室形變小

  間歇式真空系統，可保證真空泵運行時間小于5

2.   凹面光柵

  刻線密度3600l/mm

  一級光譜線色散率：1.04 nm/mm

3.   檢測器

  高性能線陣CMOS

4.   分析時間

  依樣品種類而不同，一般少于40秒

5.   激發光源

  全數字等離子火花光源技術

  高能預燃技術 (HEPS)

  頻率100-1000Hz

  電流1-80A

6.   激發臺

  3mm樣品臺分析間隙

  噴射電極技術

  設計的氣路系統，保證氬氣消耗

7.   尺寸和重量

  高450mm 長900mm 寬600 mm

  120 kg

8.   功率

  功率0W

  待機功率70W

直讀光譜儀OES6000采用CCD檢測器全譜測試技術,可測試覆蓋波長范圍內的所有譜線，配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，方便維護和實驗室放置。OES6000專注于有色金屬測試，是有色金屬材料元素測試的理想儀器。
全譜分析技術，方便配置更多基體和元素，方便在用戶現場補充配置
儀器體積小巧，對實驗室空間要求低
全天候工作，具有優異的穩定性和可靠性
樣品測試速度快，單次測試過程少于30秒
儀器使用和維護簡單、方便，對人員要求低
原廠安裝分析程序，測試數據，適用合齊全
配置標準化樣品可對儀器進行周期性校正
不使用化學試劑，測試過程安全、環保

技術性能及參數

1.分光室設計
帕邢-龍格結構
恒溫控制（34℃±0.5℃）
材質鑄造，保證光室形變小
2.凹面光柵
刻線密度3600 l/mm
一級光譜線色散率：1.2 nm/mm
波長范圍200-500nm
3.檢測器
高性能線陣CCD
4.分析時間
依樣品種類而不同，一般少于30秒
5.激發光源
全數字等離子火花光源技術
高能預燃技術 (HEPS)
頻率100-1000Hz
電流1-80A
6.激發臺
4mm樣品臺分析間隙
噴射電極技術
無待機流量，低氬氣消耗
7.尺寸和重量
高300mm 長 500mm 寬 450mm
30 kg
8.功率
功率700 W
待機功率40 W

工作條件

工作溫度：15-30℃
相對濕度：≤70
電 源：220±5V，單相50Hz，接地電阻＜1Ω
實驗室無震動、粉塵、強電磁干擾、強氣流、腐蝕性氣體

設備

高純氬氣——純度99.999以上
交流參數穩壓電源——1KVA
光譜磨樣機——用于鋼鐵、鎳合金等樣品
小型車床——用于鋁、銅、鋅、鎂合金等樣品
空調——依實驗室面積配置匹配功率

技術優勢

無需抽真空的光室
直讀光譜儀OES6000采用空氣光室設計，剔除真空泵。光室完全無油污污染源，儀器性能更穩定；維護更方便，無真空泵運行消耗電力。
全譜檢測全面測試各種金屬和元素
基于CCD檢測器全譜測試技術，全面測試各種金屬中元素的譜線，方便實現多基體、多元素的測試。
配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶處補充測試元素、分析程序。
的測試方案
長期測試技術服務的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測試方案。
測試方案采用針對材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶各類常見測試需求。
分析程序由原廠采用國際、標準樣品校準，經儀器軟件擬合、校正。
用戶只需采用原廠配置少量標準化樣品即可完成日常維護，不需購買大量制作分析程序的標準樣品。
國際供應商提供核心部件
光譜色散元件——光柵由德國Zeiss制造，保證優異的光譜分辨能力
光譜檢測器——光電倍增管由日本Toshiba制造，確保譜線檢測靈敏、低噪聲
光學鏡片——德國Zeiss制造，光纖——美國Agilent制造
的光室恒溫系統
光室恒溫腔體內配置反饋式加熱裝置和隔溫層，有效保證光室內恒溫。
由此抑制溫度變化下機械件尺寸微弱變化導致的光路漂移。同時光電器件工作在恒溫環境有助于性能的穩定。

應用領域

金屬材料元素含量測試是金屬冶煉、鑄造、加工以及機械行業的研發、生產控制、質量檢驗等相關工作的傳統測試項目。
天瑞儀器直讀光譜儀廣泛應用于鋼鐵、有色金屬材料元素含量分析,可快速、、穩定、同時測試幾十種分析元素, 滿足工業研發、工藝控制、進料檢驗、產品分選等多方面的需求。
天瑞儀器直讀光譜儀測試金屬材料元素含量便捷、環保、低成本，使研發、生產的過程和質量更可控，幫助用戶提升產品的技術、質量水平；同時加速相關流程，為用戶創造明顯的經濟效益和環保效益。直讀光譜儀已成為衡量企業技術和質量水平的標志性設備。

光譜儀，又稱分光儀，廣泛為認知的為直讀光譜儀。以光電倍增管等光探測器測量譜線不同波長位置強度的裝置。其構造由一個入射狹縫，散系統，一個成像系統和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區域，并在選定的波長上（或掃描某一波段）進行強度測定。分為單色儀和多色儀兩種。

每一條所發射的譜線的波長，取決于躍遷前后兩個能級之差。由于原子的能級很多，原子在被激發后，其外層電子可有不同的躍遷，但這些躍遷應遵循一定的規則（即“光譜選律”），因此對特定元素的原子可產生一系列不同波長的特征光譜線，這些譜線按一定的順序排列，并保持一定的強度比例。光譜分析就是從識別這些元素的特征光譜來鑒別元素的存在（定性分析），而這些光譜線的強度又與試樣中該元素的含量有關，因此又可利用這些譜線的強度來測定元素的含量（定量分析）。這就是發射光譜分析的基本依據。
http://www.zxqc92003.cn