技術性能及指標

1.   分光室設計

  帕邢-龍格結構,羅蘭圓直徑400mm

  波長范圍140 – 680nm

  像素分辨率10pm

  恒溫33℃±0.2℃

  材質(zhì)鑄造，保證光室形變小

  間歇式真空系統(tǒng)，可保證真空泵運行時間小于5

2.   凹面光柵

  刻線密度3600l/mm

  一級光譜線色散率：1.04 nm/mm

3.   檢測器

  高性能線陣CMOS

4.   分析時間

  依樣品種類而不同，一般少于40秒

5.   激發(fā)光源

  全數(shù)字等離子火花光源技術

  高能預燃技術 (HEPS)

  頻率100-1000Hz

  電流1-80A

6.   激發(fā)臺

  3mm樣品臺分析間隙

  噴射電極技術

  設計的氣路系統(tǒng)，保證氬氣消耗

7.   尺寸和重量

  高450mm 長900mm 寬600 mm

  120 kg

8.   功率

  功率0W

  待機功率70W

該款光譜儀操作簡單、維護方便，利用衍射光柵對光譜進行測量，波長范圍覆蓋600～1700nm，波長分辨率在0.02～2.0nm之間，小接收靈敏度為-90dBm，并可依靠橫河特有技術在0.2秒內(nèi)完成對100nm的掃描。
產(chǎn)品特點：
對目前一些新的測試需要增加以下測量分析功能：
1.數(shù)據(jù)日志功能
對WDM、DFB-LD、標記等多種數(shù)據(jù)的分析按照預設的時間進行掃描，記錄相關分析結果的變化以及各個時間點的光譜。
2.門控采樣功能
在仿真超長距離傳輸?shù)沫h(huán)路實驗中，接收實驗系統(tǒng)的門控，對特定的光譜進行掃描測量。
3.分辨率校正功能
利用窄線寬光源對OSA的分辨進行校正，改善對寬譜光源功率密度測試的精度。
4.標記功能
優(yōu)化以前標記點的功率讀取功能，可以直接對標記點為中心的波長范圍內(nèi)的積分功率進行讀取，應用于各類OSNR的測量分析。

光學多道OMA（OpTIcal MulTI-channel Analyzer）是近十幾年出現(xiàn)的采用光子探測器（CCD）和計算機控制的新型光譜分析儀器，它集信息采集，處理，存儲諸功能于一體。由于OMA不再使用感光乳膠，避免和省去了暗室處理以及之后的一系列繁瑣處理，測量工作，使傳統(tǒng)的光譜技術發(fā)生了根本的改變，大大改善了工作條件，提高了工作效率：使用OMA分析光譜，測盆準確迅速，方便，且靈敏度高，響應時間快，光譜分辨率高，測量結果可立即從顯示屏上讀出或由打印機，繪圖儀輸出。它己被廣泛使用于幾乎所有的光譜測量，分析及研究工作中，特別適應于對微弱信號，瞬變信號的檢測。

1.光譜分析儀（輻射計）系統(tǒng)優(yōu)點
光譜分析儀（輻射計）系統(tǒng)采用的全息平場凹面衍射光柵和高性能帶電子快門控制技術的線性CCD陣列探測器組成。并采用控制雜散光技術、精密陣列探測器電子驅(qū)動技術和寬動態(tài)線性技術，整個系統(tǒng)達到雜散低、動態(tài)范圍寬、毫秒級的測試速度及傳統(tǒng)機械式光譜儀的高精度要求。
2.光譜分析儀（輻射計）系統(tǒng)組成

CMS光譜分析儀（輻射計）、積分球、精密交直流電源、校準定標系統(tǒng)及其他高精度儀器等組成。
3.光譜分析儀（輻射計）系統(tǒng)參考標準（LED模組、LED燈、LED燈具的光色電參數(shù)測量部分標準）：

CIE13.3:1995MethodofMeasuringandSpecifyingColorRenderingofLightSources
CIE84：1989 Measurementofluminoulux
CIE127-2007MeasurementofLEDs
CIE15-2004 Colorimery
CIE177-2007ColourRenderingofWhiteLEDLightSources
IESNALM-79ElectricalandPhotometricMesaurementsofSolid-StateLiguting
......
4.光譜分析儀（輻射計）系統(tǒng)測量參數(shù)：  

色品坐標（x,y）、相關色溫、光通量、光效、能效指數(shù)（EEI）、能效等級、顯色指數(shù)、顏色質(zhì)量量表、色品坐標（u,v）、色品坐標（u`,v`）、主波長、色純度、峰值半寬度、色比、光輻射功率、瞳孔光通量、瞳孔光效、司晨視覺光通量、中間視覺光通量及電參數(shù)等參數(shù)。
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