當原子從較高能級躍遷到基態或其它較低的能級的過程中，將釋放出多余的能量，這種能量是以一定波長的電磁波的形式輻射出去的，其輻射的能量可用下式表示：（1）E2、E1分別為高能級、低能級的能量，h為普朗克（Planck）常數；v及λ分別為所發射電磁波的頻率及波長，c為光在真空中的速度。

采用CMOS檢測器全譜測試技術,可測試覆蓋波長范圍內的所有譜線，配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，方便維護和實驗室放置。OES8000s是全面測試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器，可以滿足包括：Fe基體、Cu基體、Al基體、Ti基體、Pb基體、

Mg基體、Co基體等基體要求，是金屬元素分析的優選擇。

全譜分析技術，方便配置更多基體和元素，方便在用戶現場補充配置

儀器體積小巧，對實驗室空間要求低

全天候工作，具有優異的穩定性和可靠性

樣品測試速度快，單次測試過程少于40秒

儀器使用和維護簡單、方便，對人員要求低

原廠安裝分析程序，測試數據，適用合齊全

配置標準化樣品可對儀器進行周期性校正

不使用化學試劑，測試過程安全、環保

 

技術優勢

天瑞直讀光譜儀OES8000s廣泛應用于鋼鐵及有色金屬產品元素分析，快速、、穩定、可靠測試幾十種元素，滿足工業研發、工藝控制、進料檢驗、產品分選多方面檢驗需求，是生產金屬產品的*設備。

全譜檢測全面測試各種金屬和元素

基于CCD檢測器全譜測試技術，全面測試各種金屬中元素的譜線，方便實現多基體、多元素的測試。

配置和補充測試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶處補充測試元素、分析程序。

 

國際供應商提供核心部件

光譜色散元件——光柵由德國Zeiss/法國JY公司制造，保證優異的光譜分辨能力

光譜檢測器——COMS探測器由日本濱松制造，確保譜線檢測靈敏、低噪聲

 

光室恒溫系統

光室恒溫腔體內配置反饋式加熱裝置和隔溫層，有效保證光室內恒溫。

由此抑制溫度變化下機械件尺寸微弱變化導致的光路漂移。除維護，平時保養一般不需進行描跡。

同時檢測器工作在恒溫環境有助于光電轉換性能的穩定。

 

快速同時分析鋼鐵、有色金屬材料中多種元素

將已預處理樣品置于樣品臺后，OES8000s可在至多40秒內呈現測試結果。

可根據客戶需求，測試幾乎所有鋼鐵、有色金屬材料中常見元素含量。

 

的測試方案

長期測試技術服務的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測試方案。

測試方案采用針對材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶各類常見測試需求。

分析程序由原廠采用國際、標準樣品校準，經儀器軟件擬合、校正。

用戶只需采用原廠配置少量標準化樣品即可完成日常維護，不需購買大量制作分析程序的標準樣品。

 

工作條件

工作溫度：15-30℃

相對濕度：≤70

電    源：220±5V，單相50Hz，接地電阻＜1Ω

實驗室無震動、粉塵、強電磁干擾、強氣流、腐蝕性氣體

光譜分析儀的分析原理是將光源輻射出的待測元素的特征光譜通過樣品的蒸汽中待測元素的基態原子所吸收，由發射光譜被減弱的程度，進而求得樣品中待測元素的含量。


任何元素的原子都是由原子核和繞核運動的電子組成的，原子核外電子按其能量的高低分層分布而形成不同的能級，因此，一個原子核可以具有多種能級狀態。能量低的能級狀態稱為基態能級（E0=0），其余能級稱為激發態能級，而能低的激發態則稱為激發態。正常情況下，原子處于基態，核外電子在各自能量低的軌道上運動。如果將一定外界能量如光能提供給該基態原子，當外界光能量E恰好等于該基態原子中基態和某一較高能級之間的能級差E時，該原子將吸收這一特征波長的光，外層電子由基態躍遷到相應的激發態，而產生原子吸收光譜。電子躍遷到較高能級以后處于激發態，但激發態電子是不穩定的，大約經過10^-8秒以后，激發態電子將返回基態或其它較低能級，并將電子躍遷時所吸收的能量以光的形式釋放出去，這個過程稱原子發射光譜。可見原子吸收光譜過程吸收輻射能量，而原子發射光譜過程則釋放輻射能量。
光譜分析就是從識別這些元素的特征光譜來鑒別元素的存在(定性分析)，而這些光譜線的強度又與試樣中該元素的含量有關，因此又可利用這些譜線的強度來測定元素的含量(定量分析)。這就是發射光譜分析的基本依據。

光學多道OMA（OpTIcal MulTI-channel Analyzer）是近十幾年出現的采用光子探測器（CCD）和計算機控制的新型光譜分析儀器，它集信息采集，處理，存儲諸功能于一體。由于OMA不再使用感光乳膠，避免和省去了暗室處理以及之后的一系列繁瑣處理，測量工作，使傳統的光譜技術發生了根本的改變，大大改善了工作條件，提高了工作效率：使用OMA分析光譜，測盆準確迅速，方便，且靈敏度高，響應時間快，光譜分辨率高，測量結果可立即從顯示屏上讀出或由打印機，繪圖儀輸出。它己被廣泛使用于幾乎所有的光譜測量，分析及研究工作中，特別適應于對微弱信號，瞬變信號的檢測。
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