1.光譜分析儀（輻射計(jì)）系統(tǒng)優(yōu)點(diǎn)
光譜分析儀（輻射計(jì)）系統(tǒng)采用世界先進(jìn)的全息平場(chǎng)凹面衍射光柵和高性能帶電子快門控制技術(shù)的線性CCD陣列探測(cè)器組成。并采用控制雜散光技術(shù)、精密陣列探測(cè)器電子驅(qū)動(dòng)技術(shù)和寬動(dòng)態(tài)線性技術(shù)，整個(gè)系統(tǒng)達(dá)到雜散低、動(dòng)態(tài)范圍寬、毫秒級(jí)的測(cè)試速度及傳統(tǒng)機(jī)械式光譜儀的高精度要求。
2.光譜分析儀（輻射計(jì)）系統(tǒng)組成

CMS光譜分析儀（輻射計(jì)）、積分球、精密交直流電源、校準(zhǔn)定標(biāo)系統(tǒng)及其他高精度儀器等組成。
3.光譜分析儀（輻射計(jì)）系統(tǒng)參考標(biāo)準(zhǔn)（LED模組、LED燈、LED燈具的光色電參數(shù)測(cè)量部分標(biāo)準(zhǔn)）：

CIE13.3:1995MethodofMeasuringandSpecifyingColorRenderingofLightSources
CIE84：1989 Measurementofluminoulux
CIE127-2007MeasurementofLEDs
CIE15-2004 Colorimery
CIE177-2007ColourRenderingofWhiteLEDLightSources
IESNALM-79ElectricalandPhotometricMesaurementsofSolid-StateLiguting
......
4.光譜分析儀（輻射計(jì)）系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)：

色品坐標(biāo)（x,y）、相關(guān)色溫、光通量、光效、能效指數(shù)（EEI）、能效等級(jí)、顯色指數(shù)、顏色質(zhì)量量表、色品坐標(biāo)（u,v）、色品坐標(biāo)（u`,v`）、主波長(zhǎng)、色純度、峰值半寬度、色比、光輻射功率、瞳孔光通量、瞳孔光效、司晨視覺光通量、中間視覺光通量及電參數(shù)等參數(shù)。

近紅外光譜分析儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介

近紅外光譜分析儀采用全息數(shù)字式光柵和高靈敏度銦鎵砷檢測(cè)器（TEC制冷恒溫）相結(jié)合的光學(xué)設(shè)計(jì)，基于漫反射方式進(jìn)行樣品分析，波長(zhǎng)范圍覆蓋1000-2500nm。通過外置電腦和RIMP軟件實(shí)現(xiàn)固體顆粒、片狀、粉末樣品中一些物理和化學(xué)成分的無損快速檢測(cè)。近紅外光譜分析儀整套系統(tǒng)操作簡(jiǎn)單，只需要將樣品盤放在樣品臺(tái)上，點(diǎn)擊測(cè)量，儀器自動(dòng)完成測(cè)量分析。近紅外光譜分析儀在飼料生產(chǎn)、糧油加工、谷物收購(gòu)、育種研究等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。

近紅外光譜分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)
操作簡(jiǎn)單，無需特殊培訓(xùn)，無需樣品前處理，不破壞樣品。
分析速度快，一分鐘內(nèi)同時(shí)檢測(cè)出多個(gè)指標(biāo)，如水分、脂肪、蛋白、纖維、灰分、等指標(biāo)。
適合多種樣品形式，如顆粒、片狀和粉末，并且裝樣簡(jiǎn)單、方便。
采用先進(jìn)的光柵掃描光譜技術(shù)和銦鎵砷檢測(cè)器，保證儀器穩(wěn)定性和更好的信噪比。
旋轉(zhuǎn)樣品盤測(cè)樣方式，可增強(qiáng)不均勻樣品的代表性、提高測(cè)量結(jié)果的準(zhǔn)確性。
儀器內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)，具有自動(dòng)診斷和故障提示功能。
光源采用自準(zhǔn)直模塊設(shè)計(jì)，無需調(diào)節(jié)，輕松實(shí)現(xiàn)光源更換。
多臺(tái)儀器間能夠進(jìn)行良好的模型傳遞。
全中文界面，操作簡(jiǎn)單及將儀器操作、建模和數(shù)據(jù)處理整合一體的專業(yè)軟件。
支持網(wǎng)絡(luò)連接功能，方便儀器日常維護(hù)和模型升級(jí)服務(wù)。

旋轉(zhuǎn)樣品盤設(shè)計(jì)—檢測(cè)更 光源更換操作簡(jiǎn)便快捷
應(yīng)用領(lǐng)域
飼料行業(yè) 油脂加工 谷物交易 育種研究

采用CMOS檢測(cè)器全譜測(cè)試技術(shù),可測(cè)試覆蓋波長(zhǎng)范圍內(nèi)的所有譜線，配置和補(bǔ)充測(cè)試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，方便維護(hù)和實(shí)驗(yàn)室放置。OES8000s是全面測(cè)試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器，可以滿足包括：Fe基體、Cu基體、Al基體、Ti基體、Pb基體、

Mg基體、Co基體等基體要求，是金屬元素分析的優(yōu)選擇。

全譜分析技術(shù)，方便配置更多基體和元素，方便在用戶現(xiàn)場(chǎng)補(bǔ)充配置

儀器體積小巧，對(duì)實(shí)驗(yàn)室空間要求低

全天候工作，具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性

樣品測(cè)試速度快，單次測(cè)試過程少于40秒

儀器使用和維護(hù)簡(jiǎn)單、方便，對(duì)人員專業(yè)要求低

原廠安裝分析程序，測(cè)試數(shù)據(jù)，適用合齊全

配置標(biāo)準(zhǔn)化樣品可對(duì)儀器進(jìn)行周期性校正

不使用化學(xué)試劑，測(cè)試過程安全、環(huán)保



技術(shù)優(yōu)勢(shì)

天瑞直讀光譜儀OES8000s廣泛應(yīng)用于鋼鐵及有色金屬產(chǎn)品元素分析，快速、、穩(wěn)定、可靠測(cè)試幾十種元素，滿足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進(jìn)料檢驗(yàn)、產(chǎn)品分選多方面檢驗(yàn)需求，是生產(chǎn)優(yōu)質(zhì)金屬產(chǎn)品的*設(shè)備。

全譜檢測(cè)全面測(cè)試各種金屬和元素

基于CCD檢測(cè)器全譜測(cè)試技術(shù)，全面測(cè)試各種金屬中元素的譜線，方便實(shí)現(xiàn)多基體、多元素的測(cè)試。

配置和補(bǔ)充測(cè)試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶處補(bǔ)充測(cè)試元素、分析程序。



國(guó)際供應(yīng)商提供核心部件

光譜色散元件——光柵由德國(guó)Zeiss/法國(guó)JY公司制造，保證優(yōu)異的光譜分辨能力

光譜檢測(cè)器——COMS探測(cè)器由日本濱松制造，確保譜線檢測(cè)靈敏、低噪聲



光室恒溫系統(tǒng)

光室恒溫腔體內(nèi)配置反饋式加熱裝置和高效隔溫層，有效保證光室內(nèi)恒溫。

由此抑制溫度變化下機(jī)械件尺寸微弱變化導(dǎo)致的光路漂移。除特殊維護(hù)，平時(shí)保養(yǎng)一般不需進(jìn)行描跡。

同時(shí)檢測(cè)器工作在恒溫環(huán)境有助于光電轉(zhuǎn)換性能的穩(wěn)定。



快速同時(shí)分析鋼鐵、有色金屬材料中多種元素

將已預(yù)處理樣品置于樣品臺(tái)后，OES8000s可在至多40秒內(nèi)呈現(xiàn)測(cè)試結(jié)果。

可根據(jù)客戶需求，測(cè)試幾乎所有鋼鐵、有色金屬材料中常見元素含量。



專業(yè)的測(cè)試方案

長(zhǎng)期測(cè)試技術(shù)服務(wù)的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測(cè)試方案。

測(cè)試方案采用針對(duì)材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶各類常見測(cè)試需求。

分析程序由原廠采用國(guó)際、標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)，經(jīng)專業(yè)儀器軟件擬合、校正。

用戶只需采用原廠配置少量標(biāo)準(zhǔn)化樣品即可完成日常維護(hù)，不需購(gòu)買大量制作分析程序的標(biāo)準(zhǔn)樣品。



工作條件

工作溫度：15-30℃

相對(duì)濕度：≤70

電 源：220±5V，單相50Hz，接地電阻＜1Ω

實(shí)驗(yàn)室無震動(dòng)、粉塵、強(qiáng)電磁干擾、強(qiáng)氣流、腐蝕性氣體

光譜儀，又稱分光儀，廣泛為認(rèn)知的為直讀光譜儀。以光電倍增管等光探測(cè)器測(cè)量譜線不同波長(zhǎng)位置強(qiáng)度的裝置。其構(gòu)造由一個(gè)入射狹縫，一個(gè)色散系統(tǒng)，一個(gè)成像系統(tǒng)和一個(gè)或多個(gè)出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長(zhǎng)或波長(zhǎng)區(qū)域，并在選定的波長(zhǎng)上（或掃描某一波段）進(jìn)行強(qiáng)度測(cè)定。分為單色儀和多色儀兩種。

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