光譜儀，又稱分光儀，廣泛為認知的為直讀光譜儀。以光電倍增管等光探測器測量譜線不同波長位置強度的裝置。其構造由一個入射狹縫，一個色散系統，一個成像系統和一個或多個出射狹縫組成。以色散元件將輻射源的電磁輻射分離出所需要的波長或波長區域，并在選定的波長上（或掃描某一波段）進行強度測定。分為單色儀和多色儀兩種。

光譜分析儀是一種用于測量發光體的輻射光譜，即發光體本身的指標參數的儀器。廣泛應用于科研、教學、工業等多領域。CNI提供、、軟件分析等產品。
光譜分析儀的優點：
1.采樣方式靈活，對于稀有和貴重金屬的檢測和分析可以節約取樣帶來的損耗。
2.測試速率高，可設定多通道瞬間多點采集，并通過計算器實時輸出。
3.對于一些機械零件可以做到無損檢測，而不破壞樣品，便于進行無損檢測。
4.分析速度較快，比較適用做爐前分析或現場分析，從而達到快速檢測。
5.分析結果的準確性是建立在化學分析標樣的基礎上。
光譜分析儀的缺點：
1.對于非金屬和界于金屬和非金屬之間的元素很難做到準確檢測。
2.不是原始方法，不能作為仲裁分析方法，檢測結果不能做為認證依據。
3.受各企業產品相對壟斷的因素，購買和維護成本都比較高，性價比較低。
4.需要大量代表性樣品進行化學分析建模，對于小批量樣品檢測顯然不切實際。
5.模型需要不斷更新，在儀器發生變化或者標準樣品發生變化時，模型也要變化。
6.建模成本很高，素分析儀測試成本也就比較大了，當然對于大量樣品檢測時，測試成本會下降。
7.易受光學系統參數等外部或內部因素影響，經常出現曲線非線性問題，對檢測結果的準確度影響較大。

當原子從較高能級躍遷到基態或其它較低的能級的過程中，將釋放出多余的能量，這種能量是以一定波長的電磁波的形式輻射出去的，其輻射的能量可用下式表示：（1）E2、E1分別為高能級、低能級的能量，h為普朗克（Planck）常數；v及λ分別為所發射電磁波的頻率及波長，c為光在真空中的速度。

技術性能及指標

1. 分光室設計

帕邢-龍格結構,羅蘭圓直徑400mm

波長范圍140 – 680nm

像素分辨率10pm

恒溫33℃±0.2℃

特殊材質鑄造，保證光室形變小

間歇式真空系統，可保證真空泵運行時間小于5

2. 凹面光柵

刻線密度3600l/mm

一級光譜線色散率：1.04 nm/mm

3. 檢測器

高性能線陣CMOS

4. 分析時間

依樣品種類而不同，一般少于40秒

5. 激發光源

全數字等離子火花光源技術

高能預燃技術 (HEPS)

頻率100-1000Hz

電流1-80A

6. 激發臺

3mm樣品臺分析間隙

噴射電極技術

特殊設計的氣路系統，保證氬氣消耗

7. 尺寸和重量

高450mm 長900mm 寬600 mm

120 kg

8. 功率

功率0W

待機功率70W

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