直讀光譜儀OES1000采用光電倍增管（PMT）技術(shù)和獨(dú)特光路設(shè)計(jì)使其具有優(yōu)異性能，尤其對(duì)真空紫外譜線（涉及C、P、S、B、Sn等元素）、常量和痕量含量元素的檢測(cè)有獨(dú)特優(yōu)勢(shì)，是追求高性能測(cè)試用戶的。
全天候工作，具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性
樣品測(cè)試速度快，單次測(cè)試過程少于40秒
軟件可對(duì)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)判定牌
儀器使用和維護(hù)簡(jiǎn)單、方便，對(duì)人員專業(yè)要求低
原廠安裝分析程序，測(cè)試數(shù)據(jù)，適用合齊全
配置標(biāo)準(zhǔn)化樣品可對(duì)儀器進(jìn)行周期性校正
不使用化學(xué)試劑，測(cè)試過程安全、環(huán)保

技術(shù)性能及參數(shù)

1.分光室設(shè)計(jì)
帕邢-龍格裝置，1米焦距
根據(jù)測(cè)試需求分為真空型（真空度≤a）、空氣型兩種
恒溫控制（32℃±0.1℃）
特殊材質(zhì)鑄造，保證光室形變小
2.多安裝通道 32
3.凹面光柵
刻線密度2160gr/mm
曲率半徑998.8mm
逆線色散率0.47nm/mm
波長(zhǎng)范圍170-463nm
4.狹縫寬度
入射狹縫20μm，
出射狹縫為整體狹縫，寬度為35-75μm
5.光電倍增管
10級(jí)側(cè)窗型，熔融石英或玻璃外殼；
6.分析時(shí)間
依樣品種類而不同，一般少于40秒
7.激發(fā)光源
高能預(yù)火花光源（HEPS），放電頻率100-900Hz，電極間距3-4mm
8.測(cè)光方式
采用光電倍增管檢測(cè)器測(cè)光，光電倍增管負(fù)高壓連續(xù)可調(diào)，傳統(tǒng)的分段積分法
9.控制系統(tǒng)
采用FPGA技術(shù)控制整個(gè)儀器的工作狀態(tài)
10.尺寸和重量
尺寸：1680(長(zhǎng))×1020(寬)×1(高)mm
重量：約500kg

應(yīng)用領(lǐng)域

金屬材料元素含量測(cè)試是金屬冶煉、鑄造、加工以及機(jī)械行業(yè)的研發(fā)、生產(chǎn)控制、質(zhì)量檢驗(yàn)等相關(guān)工作的傳統(tǒng)測(cè)試項(xiàng)目。
天瑞儀器直讀光譜儀廣泛應(yīng)用于鋼鐵、有色金屬材料元素含量分析,可快速、、穩(wěn)定、同時(shí)測(cè)試幾十種元素, 測(cè)試過程便捷、環(huán)保、低成本，滿足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進(jìn)料檢驗(yàn)、產(chǎn)品分選等多方面的需求。
天瑞儀器直讀光譜儀的快速測(cè)試使研發(fā)、生產(chǎn)過程和質(zhì)量更可控，幫助用戶提升產(chǎn)品的技術(shù)、質(zhì)量水平；使相關(guān)流程加快，為用戶創(chuàng)造明顯的經(jīng)濟(jì)效益和環(huán)保效益。直讀光譜儀已成為衡量企業(yè)技術(shù)和質(zhì)量水平的標(biāo)志性設(shè)備。

采用CMOS檢測(cè)器全譜測(cè)試技術(shù),可測(cè)試覆蓋波長(zhǎng)范圍內(nèi)的所有譜線，配置和補(bǔ)充測(cè)試基體、通道、分析程序極為方便。儀器體積小巧，方便維護(hù)和實(shí)驗(yàn)室放置。OES8000s是全面測(cè)試鋼鐵和有色金屬材料元素的通用型儀器，可以滿足包括：Fe基體、Cu基體、Al基體、Ti基體、Pb基體、

Mg基體、Co基體等基體要求，是金屬元素分析的優(yōu)選擇。

全譜分析技術(shù)，方便配置更多基體和元素，方便在用戶現(xiàn)場(chǎng)補(bǔ)充配置

儀器體積小巧，對(duì)實(shí)驗(yàn)室空間要求低

全天候工作，具有優(yōu)異的穩(wěn)定性和可靠性

樣品測(cè)試速度快，單次測(cè)試過程少于40秒

儀器使用和維護(hù)簡(jiǎn)單、方便，對(duì)人員專業(yè)要求低

原廠安裝分析程序，測(cè)試數(shù)據(jù)，適用合齊全

配置標(biāo)準(zhǔn)化樣品可對(duì)儀器進(jìn)行周期性校正

不使用化學(xué)試劑，測(cè)試過程安全、環(huán)保



技術(shù)優(yōu)勢(shì)

天瑞直讀光譜儀OES8000s廣泛應(yīng)用于鋼鐵及有色金屬產(chǎn)品元素分析，快速、、穩(wěn)定、可靠測(cè)試幾十種元素，滿足工業(yè)研發(fā)、工藝控制、進(jìn)料檢驗(yàn)、產(chǎn)品分選多方面檢驗(yàn)需求，是生產(chǎn)優(yōu)質(zhì)金屬產(chǎn)品的*設(shè)備。

全譜檢測(cè)全面測(cè)試各種金屬和元素

基于CCD檢測(cè)器全譜測(cè)試技術(shù)，全面測(cè)試各種金屬中元素的譜線，方便實(shí)現(xiàn)多基體、多元素的測(cè)試。

配置和補(bǔ)充測(cè)試基體、通道、分析程序極為方便，方便交貨后在客戶處補(bǔ)充測(cè)試元素、分析程序。



國(guó)際供應(yīng)商提供核心部件

光譜色散元件——光柵由德國(guó)Zeiss/法國(guó)JY公司制造，保證優(yōu)異的光譜分辨能力

光譜檢測(cè)器——COMS探測(cè)器由日本濱松制造，確保譜線檢測(cè)靈敏、低噪聲



光室恒溫系統(tǒng)

光室恒溫腔體內(nèi)配置反饋式加熱裝置和高效隔溫層，有效保證光室內(nèi)恒溫。

由此抑制溫度變化下機(jī)械件尺寸微弱變化導(dǎo)致的光路漂移。除特殊維護(hù)，平時(shí)保養(yǎng)一般不需進(jìn)行描跡。

同時(shí)檢測(cè)器工作在恒溫環(huán)境有助于光電轉(zhuǎn)換性能的穩(wěn)定。



快速同時(shí)分析鋼鐵、有色金屬材料中多種元素

將已預(yù)處理樣品置于樣品臺(tái)后，OES8000s可在至多40秒內(nèi)呈現(xiàn)測(cè)試結(jié)果。

可根據(jù)客戶需求，測(cè)試幾乎所有鋼鐵、有色金屬材料中常見元素含量。



專業(yè)的測(cè)試方案

長(zhǎng)期測(cè)試技術(shù)服務(wù)的積淀，天瑞儀器為鋼鐵、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測(cè)試方案。

測(cè)試方案采用針對(duì)材料元素含量分類的分析程序，滿足用戶各類常見測(cè)試需求。

分析程序由原廠采用國(guó)際、標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn)，經(jīng)專業(yè)儀器軟件擬合、校正。

用戶只需采用原廠配置少量標(biāo)準(zhǔn)化樣品即可完成日常維護(hù)，不需購(gòu)買大量制作分析程序的標(biāo)準(zhǔn)樣品。



工作條件

工作溫度：15-30℃

相對(duì)濕度：≤70

電 源：220±5V，單相50Hz，接地電阻＜1Ω

實(shí)驗(yàn)室無震動(dòng)、粉塵、強(qiáng)電磁干擾、強(qiáng)氣流、腐蝕性氣體

光譜分析儀的分析原理是將光源輻射出的待測(cè)元素的特征光譜通過樣品的蒸汽中待測(cè)元素的基態(tài)原子所吸收，由發(fā)射光譜被減弱的程度，進(jìn)而求得樣品中待測(cè)元素的含量。


任何元素的原子都是由原子核和繞核運(yùn)動(dòng)的電子組成的，原子核外電子按其能量的高低分層分布而形成不同的能級(jí)，因此，一個(gè)原子核可以具有多種能級(jí)狀態(tài)。能量低的能級(jí)狀態(tài)稱為基態(tài)能級(jí)（E0=0），其余能級(jí)稱為激發(fā)態(tài)能級(jí)，而能低的激發(fā)態(tài)則稱為激發(fā)態(tài)。正常情況下，原子處于基態(tài)，核外電子在各自能量低的軌道上運(yùn)動(dòng)。如果將一定外界能量如光能提供給該基態(tài)原子，當(dāng)外界光能量E恰好等于該基態(tài)原子中基態(tài)和某一較高能級(jí)之間的能級(jí)差E時(shí)，該原子將吸收這一特征波長(zhǎng)的光，外層電子由基態(tài)躍遷到相應(yīng)的激發(fā)態(tài)，而產(chǎn)生原子吸收光譜。電子躍遷到較高能級(jí)以后處于激發(fā)態(tài)，但激發(fā)態(tài)電子是不穩(wěn)定的，大約經(jīng)過10^-8秒以后，激發(fā)態(tài)電子將返回基態(tài)或其它較低能級(jí)，并將電子躍遷時(shí)所吸收的能量以光的形式釋放出去，這個(gè)過程稱原子發(fā)射光譜。可見原子吸收光譜過程吸收輻射能量，而原子發(fā)射光譜過程則釋放輻射能量。
光譜分析就是從識(shí)別這些元素的特征光譜來鑒別元素的存在(定性分析)，而這些光譜線的強(qiáng)度又與試樣中該元素的含量有關(guān)，因此又可利用這些譜線的強(qiáng)度來測(cè)定元素的含量(定量分析)。這就是發(fā)射光譜分析的基本依據(jù)。

1.光譜分析儀（輻射計(jì)）系統(tǒng)優(yōu)點(diǎn)
光譜分析儀（輻射計(jì)）系統(tǒng)采用世界先進(jìn)的全息平場(chǎng)凹面衍射光柵和高性能帶電子快門控制技術(shù)的線性CCD陣列探測(cè)器組成。并采用控制雜散光技術(shù)、精密陣列探測(cè)器電子驅(qū)動(dòng)技術(shù)和寬動(dòng)態(tài)線性技術(shù)，整個(gè)系統(tǒng)達(dá)到雜散低、動(dòng)態(tài)范圍寬、毫秒級(jí)的測(cè)試速度及傳統(tǒng)機(jī)械式光譜儀的高精度要求。
2.光譜分析儀（輻射計(jì)）系統(tǒng)組成

CMS光譜分析儀（輻射計(jì)）、專用積分球、精密交直流電源、校準(zhǔn)定標(biāo)系統(tǒng)及其他高精度專用儀器等組成。
3.光譜分析儀（輻射計(jì)）系統(tǒng)參考標(biāo)準(zhǔn)（LED模組、LED燈、LED燈具的光色電參數(shù)測(cè)量部分標(biāo)準(zhǔn)）：

CIE13.3:1995MethodofMeasuringandSpecifyingColorRenderingofLightSources
CIE84：1989 Measurementofluminoulux
CIE127-2007MeasurementofLEDs
CIE15-2004 Colorimery
CIE177-2007ColourRenderingofWhiteLEDLightSources
IESNALM-79ElectricalandPhotometricMesaurementsofSolid-StateLiguting
......
4.光譜分析儀（輻射計(jì)）系統(tǒng)測(cè)量參數(shù)：

色品坐標(biāo)（x,y）、相關(guān)色溫、光通量、光效、能效指數(shù)（EEI）、能效等級(jí)、顯色指數(shù)、顏色質(zhì)量量表、色品坐標(biāo)（u,v）、色品坐標(biāo)（u`,v`）、主波長(zhǎng)、色純度、峰值半寬度、色比、光輻射功率、瞳孔光通量、瞳孔光效、司晨視覺光通量、中間視覺光通量及電參數(shù)等參數(shù)。

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