天瑞儀器有限公司生產的XRF鍍層測厚儀在電鍍檢測行業中， 針對上述五項需求的應用：


(1)、對鍍層膜厚檢測、電鍍液分析可精準分析；
(2)、對RoHS有害元素檢測、重金屬檢測、槽液雜質檢測、水質在線監測可進行快速檢測，檢測環境里的重金屬是否超標。
同時具有以下特點
快速：1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求。
方便：X熒光光譜儀部分機型采用進口國際上較先進的電制冷半導體探測器，能量分辨率更優于135eV，測試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補充液氮，操作使用更加方便，并且運行成本比同類的其他產品更低。
無損：測試前后，樣品無任何形式的變化。
直觀：實時譜圖，可直觀顯示元素含量。
測試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學結合狀態無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。
可靠性高：由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。所以，其測量的可靠性更高。
滿足不同需求：測試軟件為WINDOWS操作系統軟件，操作方便、功能強大，軟件可監控儀器狀態，設定儀器參數，并就有多種先進的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
性價比高：相比化學分析類儀器，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優勢的，可以讓更多的企業和廠家接受。
簡易：對人員技術要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。


產品圖片：




測試實例


鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用XRF鍍層測厚儀Thick800A對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度，七次的結果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行精確定位測試，其測試位置如圖。




銅鍍鎳件X射線熒光測試譜圖





樣 品 名


成分Ni()


鍍層Ni(um)


吊扣


100


19.321


吊扣2#


100


19.665


吊扣3#


100


18.846


吊扣4#


100


19.302


吊扣5#


100


18.971


吊扣6#


100


19.031


吊扣7#


100


19.146


平均值


100


19.18314


標準偏差


0


0.273409


相對標準偏差


0


1.425257


銅鍍鎳件測試值


結論


實驗表明，使用XRF鍍層測厚儀對鍍件膜厚測試，結果準確度高，速度快（幾十秒），其測試效果完全可以和顯微鏡測試法媲美。


售后服務：


天瑞儀器作為一個集儀器研發、系統設計、產品生產、服務提供為一身的綜合性儀器供應廠商，一直以來嚴格遵循“360°優質服務”的客戶服務理念，以提高顧客滿意度為根本目標，從服務力量、服務流程、服務內容等各個方面為客戶提供全方位的優質服務。
我公司為客戶提供技術咨詢、方案設計、技術交流、產品制造、系統集成、現場勘察、工程實施、技術培訓、服務熱線、故障處理、回訪、巡檢等全過程、全方位、全系列的服務。這些不僅讓客戶體驗到天瑞儀器高質量的服務，更為客戶創造了更高的價值。
“快速、準確、到位”的服務
較短交貨時間
較快安裝
較短維修周期
較長保修期
較個性化服務
較低維護費用
天瑞thic800a上照式鼠標定位X射線熒光測厚儀是檢測5層以內，50微米以內的金屬厚度。


開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護傳感器
計算機及噴墨打印機


黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。


元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互獨立的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg
天瑞X射線膜厚測試儀性能介紹及配置：


此型號為Thick800a



詳細配置信息：


一、硬件：主機壹臺，含下列主要部件：


(1) X光管（牛津） (2)Si-PIN電制冷半導體探測器（美國AMPTEK）


(3) 信號檢測電子電路 (4) 高精度二維移動平臺


(5) 高清晰攝像頭 (6) 高低壓電源(SPELLMAN)


(7) 開放式樣品腔 (8）雙激光定位裝置


(9) 鉛玻璃屏蔽罩


二、軟件及其他：天瑞X射線膜厚測試儀FpThick分析軟件V1.0


2.1 計算機、打印機各一臺


計算機（聯想，內存2G,硬盤500G液晶顯示屏19寸）、Intel Pentium G3220*處理器


打印機（佳能，彩色噴墨打印機）


2.2 資料：器使用說明書（包括軟件操作說明書和硬件使用說明書）、出廠檢驗合格證明、裝箱單、保修單及其它應提供資料各一份。


2.3 標準附件


準直孔：Ф0.2mm，Ф0.3mm，Ф0.5mm，Ф1.0mm（可選其中一種）


（已內置于儀器中）


天瑞X射線膜厚測試儀產品圖片：





性能描述：

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊

鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結果更加精準

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護


天瑞X射線鍍層測厚儀使用環境：


環境溫度要求：15℃-30
環境相對濕度：<70
工作電源：交流220±5V
周圍不能有強電磁干擾。


天瑞X射線鍍層測厚儀技術指標：



分析元素范圍：K-U


同時可分析多達5層鍍層


分析厚度檢出限較高達0.005μm


定位精度：0.1mm


測量時間：5s-300s


計數率：0-8000cps


Z軸升降范圍：0-140mm


X/Y平臺可移動行程：50mm(W)×50mm(D)






銅鍍鎳件膜厚儀測試譜圖





樣 品 名


成分Ni()


鍍層Ni(um)


吊扣


100


19.321


吊扣2#


100


19.665


吊扣3#


100


18.846


吊扣4#


100


19.302


吊扣5#


100


18.971


吊扣6#


100


19.031


吊扣7#


100


19.146


平均值


100


19.18314


標準偏差


0


0.273409


相對標準偏差


0


1.425257


銅鍍鎳件測試值


分析厚度：一般0.05-30um（不同元素厚度有所不同）
工作電壓：AC 110V/220V（建議配置交流凈化穩壓電源）
測量時間：40秒（可根據實際情況調整）較小孔徑φ0.2mm
儀器尺寸：610(L) x 355 (W) x 380（H） mm，儀器重量：30kg


應用領域


X熒光鍍層厚度測試儀廣泛應用于金屬鍍層的厚度測量、電鍍液和鍍層含量的測定電鍍、PCB、電子電器、氣配五金、衛浴等行業。


天瑞儀器對X射線膜厚儀提供的售后服務體系：


軟件免費升級：如有軟件升級，乙方將免費提供升級軟件，如需上門升級按技術服務條款收取相關費用；免費保修1年， 免費保修期內，維修相關費用全免；


技術服務的響應期限：提供較有效的技術服務，在接到用戶故障信息后，4小時內響應；如有必要，12～72個小時內派人上門維修和排除故障。


非乙方產品自身故障所造成的現場技術服務（如增加測試功能和數據校正等），乙方將按技術服務條款收取相關費用。由甲方人為造成的損傷不在上述保修條款中，具體事例雙方協商解決。
X-ray鍍層厚度分析儀具有測量誤差小、可靠性高、穩定性好、操作簡便等特點，是控制和保證產品質量必不可少的檢測儀器，廣泛地應用在制造業、金屬加工業、化工業、商檢等檢測領域。X射線鍍層分析儀已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節，是產品達到優等質量標準的必要手段。為使產品國際化，我國出口商品和涉外項目中，對鍍層厚度有了明確要求。

X射線是無接觸無損測量，測量范圍較小，X射線法可測極薄鍍層、雙鍍層、合金鍍層。隨著技術的日益進步，特別是近年來引入微機技術后，X射線鍍層厚度分析儀向微型、智能、多功能、高精度、實用化的方向進了一步。測量的分辨率已達0.1微米，精度可達到1，有了大幅度的提高。它適用范圍廣，量程寬、操作簡便且價廉，是工業和科研使用較廣泛的測厚儀器。工業X射線鍍層厚度分析儀以其快速、無損、現場測量等優點，已在冶金、建材、地質、環保、商檢、考古、醫學等領域得到迅速推廣和應用。近幾年來X射線熒光儀已在工業鍍層及涂層厚度測量中應用越來越廣泛。眾所周知，產品和金屬元件表面鍍層或防腐層厚度是與產品質量與性能相關的重要指標。實驗表明使用同位素X射線熒光分析方法，能夠滿足工業鍍層和涂層厚度的分析要求，并且具有無損、在線、簡便快速、可實現自動控制等特點。
X熒光鍍層厚度分析儀基本原理
鍍層原理
X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對X射線熒光的分析確定被測樣品中各組分含量的儀器就是X射線熒光分析儀。由原子物理學的知識，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結構，其核外電子都以其特有的能量在各自的固定軌道上運行。內層電子在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，成為自由電子，這時原子被激發了，處于激發態。此時，其他的外層電子便會填補這一空位，即所謂的躍遷，同時以發出X射線的形式放出能量。由于每一種元素的原子能級結構都是特定的，它被激發后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的，稱之為特征X射線。通過測定特征X射線的能量，便可以確定相應元素的存在，而特征X射線的強弱（或者說X射線光子的多少）則代表該元素的含量。

產品性能特點和優勢：
滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加精準
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護
儀器結構圖：

應用領域
黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。
thick800a-2
分析案例：
鍍鎳器件是比較常見的電鍍器件，其鎳鍍層在保護銅基體免受氧化同時還能起到美觀的作用。這里以測試客戶的一件銅鍍鎳樣品為例說明此款儀器的測試效果。
以下使用Thick800A儀器對銅鍍鎳樣品實際測試Ni層厚度，七次的結果其標準偏差和相對標準偏差。且可在樣品上進行精確定位測試，其測試位置如圖。

鍍層譜圖
分析結果：

鍍層結果
天瑞一直致力于分析儀器事業，相信天瑞會為電鍍行業的客戶提供有競爭力的解決方案和服務。
天瑞儀器作為一個集儀器研發、系統設計、產品生產、服務提供為一身的綜合性儀器供應廠商，一直以來嚴格遵循“360°優質服務”的客戶服務理念，以提高顧客滿意度為根本目標，從服務力量、服務流程、服務內容等各個方面為客戶提供全方位的優質服務。

我公司為客戶提供技術咨詢、方案設計、技術交流、產品制造、系統集成、現場勘察、工程實施、技術培訓、服務熱線、故障處理、回訪、巡檢等全過程、全方位、全系列的服務。這些不僅讓客戶體驗到天瑞儀器高質量的服務，更為客戶創造了更高的價值。
“快速、準確、到位”的服務
較短交貨時間
較快安裝
較短維修周期
較長保修期
較個性化服務
較低維護費用。



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