X射線測厚儀thick800a是天瑞儀器專業研制的檢測金屬厚度的儀器，已經在電鍍行業得到大規模的應用，深受客戶**。儀器采用獨特的上照式機構，能夠適應各種不規則和體積大小樣品的表面鍍層測試。三維自動平臺，可實現X/Y/Z軸的自動定位，操作性能好。產品實際性能同類品牌三年以上。X射線電鍍層膜厚儀介紹及圖片：


X射線膜層測厚儀技術參數：


儀器尺寸：

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，

特殊測試時，可開蓋，對樣品長度無限制

檢測開槽口時，厚度10mm以上，寬度和深度沒有限制。

樣品臺尺寸：230(W)×210(D)mm

范圍：50(X)mm， 50(Y)mm

Z軸升降平臺升降范圍：0-140mm

2、儀器重量：90kg

3、SDD半導體探測器：

探測器輸入電壓：±12V，+5V

探頭窗口面積：25mm-2---

探頭窗口厚度：0.5mil

分辨率：140±5eV

探頭內制冷溫度：<-40℃

4、X射線光管：

管壓：5-50kV

管流：0-1

材：W

窗口：鈹窗

制冷方式：風冷

工作溫度：≤75℃

5、高壓發生器：

輸入電壓：24V

輸入電流：5A

管壓：0-50kV

管流：0-2

燈絲電壓：5V

燈絲電流：3.5A

6、MCA多道分析器：

輸入電壓：±12V，+5V

采樣頻率：100 KHZ

脈沖幅度：0-7.6V

A/D位數：12位

分析道數：4096道

7、準直器系統：

準直器：?0.1 mm(可根據要求選配)

濾光片：Al(可根據要求選配)

8、高清晰攝像頭：

傳感器類型：CCD（彩色）

接口：U2.0

傳感器廠商：索尼

快門類型：面陣

光學尺寸：1/4英寸

有效像素：659(H)×494（V）

有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)

像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：

感應度：0.58V（索尼標準）

顏色排列：RGB

幀率：30fps

快門速度：1/1538-1/30（秒）

9、自動對焦系統：

通用數字激光傳感器、CMOS激光傳感器

實現樣品高度的自動對焦。



廠商實力：



江蘇天瑞儀器的發展得到了各級的大力支持與幫助，現任局、十二屆**會長，現任局、政協第十二屆全國會，時任局、副總理等各級多次來訪視察工作！



現任局、十二屆**會長等人來我公司調研

現任局常、政協第十二屆全國會委等參觀天瑞儀器


江蘇天瑞儀器股份有限公司被授予“火炬計劃重點高新技術企業”，“江蘇省高新技術企業”，“江蘇省軟件企業”，“江蘇省科技創新示范企業”，“江蘇省規劃布局內重點軟件企業”，“江蘇省光譜分析儀器工程技術研究中心”等榮譽稱。產品具有國際的技術水平，X熒光光譜儀系列產品被認定為“重點新產品”和“江蘇省高新技術產品”。產品品種齊全，為環境保護與安全、工業測試與分析及其它領域提供專業解決方案。



X射線電鍍層測厚儀輻射安全許可證



X射線鍍層測厚儀計量證書。



售后服務體系：



只要客戶方的系統存在問題，請即刻我司的售后服務電話由我司技術工程師遠程指導用戶解決問題。免費服務電話：800-9993-800，24小時服務：400-7102-888

快速的現場服務

當客戶方的系統被診斷為系統故障，而無法通過電話／電子郵件方式、遠程撥入分析等手段解決時，我們的現場工程師會帶上相應的系統工具和軟件立即趕赴現場進行緊急維護。我司承諾在接到業主維修及技術服務要求后立即做出相應，在遠程不能解決問題的情況下，我司工程人員將在24小時內趕到現場，48小時解決出現的問題，保證系統恢復正常運行。

定期訪問交流

定期訪問交流

在客戶系統運行過程中，我司將采取專人定期、不定期方式進行訪問交流，調查項目實施和維護情況，聽取用戶意見，現場解決用戶存在問題，現場對系統進行測試和優化，及時發現系統存在的問題或潛在的故障，提前消除隱患，確保系統安全、穩定的運行，并對此系統運行質量評估。

以上客戶服務響應方式并不是相互孤立、互不相關的，而是以公司的客戶服務中心的組織結構為依托，多種靈活的服務方式相互滲透、緊密結合成為完整統一的客戶服務故障響應體系。這種體系經多個大型工作項目的實際運行體驗，以被認為是高效可行的故障響應方式。

故障響應

針對該項目我公司將以優良的服務態度，我公司承諾在接到業主維修及技術服務要求后立即響應，在遠程能解決問題的情況下，30分鐘以內響應，12小時以內完成提出的維修要求，緊急情況2小時內趕赴現場搶修，一般情況下24小時到達現場。若48小時內無法解決問題，需更換設備或送修，我方承諾提供備機，保證系統恢復正常運行。



客戶服務網點

天瑞儀器已在國內近30個主要城市設立客戶服務網點，提品現場維護與技術支持服務。服務網點售后服務工程師全部經過嚴格專業培訓，具備豐富的產品安調與維護保養經驗。客戶服務網點同時設置備品備件庫，根據周邊地區客戶使用的天瑞儀器產品數量，配置充足的常用備品備件；根據備品備件消耗情況，由上級主管區域服務中心動態調配補充備品備件庫。
電力行業中高壓隔離開關應用范圍相當的廣泛，主要用于高壓線路無負載換接、斷路器等電氣設備與高壓線路之間的電氣隔離，其鍍層厚度會極大的影響開關導電性和使用壽命。因此，對相關部件表面鍍層厚度的測量就顯得尤為必要。

鍍銀層主要作用在于防止腐蝕，增加導電率、反光性和美觀。廣泛應用于電器、儀器、儀表和照明用具等制造工業。例如銅或銅合金制件鍍銀時，須先經除油去銹；再預鍍薄銀或浸入由氯化等配成的溶液中，進行化處理，使在制件表面鍍上一層膜；然后將制件作陰極，純銀板作陽極，浸入由銀和所配成的電解液中，進行電鍍。電器、儀表等工業還采用無氰鍍銀。電鍍液用硫代硫酸鹽、亞硫酸鹽、硫氰酸鹽、亞鐵等。為了防止銀鍍層變色，通常要經過鍍后處理，主要是浸亮、化學和電化學鈍化，鍍貴金屬或稀有金屬或涂覆蓋層等。如何測量鍍銀層厚度對于整個產品質量至關重要，天瑞儀器生產的鍍銀厚度測試儀是快速、準確、無損檢測儀器，廣泛應用于電子電器、五金工具、電子連接器、印制線路板、五金端子等產品中，產品得到了客戶的廣泛應用和認可。

滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求
φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求
高精度平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光，可自動定位測試高度
定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊
鼠標可控制平臺，鼠標點擊的位置就是被測點
高分辨率探頭使分析結果更加
良好的射線屏蔽作用
測試口高度敏感性傳感器保護

技術指標

型：Thick 800A
元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。
同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。
分析含量一般為ppm到99.9 。
鍍層厚度一般在50μm以內（每種材料有所不同）
任意多個可選擇的分析和識別模型。
相互的基體效應校正模型。
多變量非線性回收程序
度適應范圍為15℃至30℃。
電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩壓電源。
外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg

利用天瑞儀器的explorer5000鍍銀層測厚儀分析一系列銅鍍銀樣品，所得結果如下表。各個數據點相關系數為0.996，線性相關性非常好。當銀厚度為1-30 μm 范圍內，測量值與標稱值平均誤差為0.6 μm， 30-60 μm 范圍內平均誤差為 1.3 μm，相對誤差小于4，在可接受范圍以內，測厚范圍可達1-60 μm。
基于強大的研發和應用能力特別為電鍍行業制定了一套有效的測試解決方案。
鍍層膜厚檢測：有效進行鍍層厚度的產品質量管控
電鍍液分析：精確檢測電鍍液成分及濃度，確保鍍層質量
水質在線監測：有效監測電鍍所產生的工業廢水中的有害物質含量，已達到排放標準
RoHS有害元素檢測：為電鍍產品符合RoHS標準，嚴把質量關
重金屬及槽液雜質檢測：有效檢測電鍍成品，以及由電鍍所產生的工業廢水、廢物中的重金屬含量


天瑞儀器有限公司生產的能量色散X系列在電鍍檢測行業中，針對上述五項需求的應用：
(1)、對鍍層膜厚檢測、電鍍液分析可精準分析；
(2)、對RoHS有害元素檢測、重金屬檢測、槽液雜質檢測、水質在線監測可進行快速檢測，檢測環境里的重金屬是否超標。
同時具有以下特點
快速：1分鐘就可以測定樣品鍍層的厚度，并達到測量精度要求。
方便：X熒光光譜儀部分機型采用進口國際上的電制冷半導體探測器，能量分辨率更優于135eV，測試精度更高。并且不用液氮制冷，不用定期補充液氮，操作使用更加方便，并且運行成本比同類的其他產品更低。
無損：測試前后，樣品無任何形式的變化。
直觀：實時譜圖，可直觀顯示元素含量。
測試范圍廣：X熒光光譜儀，是一種物理分析方法，其分析與樣品的化學結合狀態無關。對在化學性質上屬同一族的元素也能進行分析,抽真空可以測試從Na到U。
可靠性高：由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析精度、重復性與穩定性很高。所以，其測量的可靠性更高。
滿足不同需求：測試軟件為WINDOWS操作系統軟件，操作方便、功能強大，軟件可監控儀器狀態，設定儀器參數，并就有多種先進的分析方法，工作曲線制作方法靈活多樣，方便滿足不同客戶不同樣品的測試需要。
性價比高：相比化學分析類儀器，X熒光光譜儀在總體使用成本上有優勢的，可以讓更多的企業和廠家接受。
簡易：對人員技術要求較低，操作簡單方便,并且維護簡單方便。
涂鍍層測厚儀精度的影響有哪些因素？
1．影響因素的有關說明
a基體金屬磁性質磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準；亦可用待涂覆試件進行校準。
b基體金屬電性質基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。
c基體金屬厚度每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表1。
d邊緣效應本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。
e曲率試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
f試件的變形測頭會使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數據。
g表面粗糙度基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點；或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點。
g磁場周圍各種電氣設備所產生的強磁場，會嚴重地干擾磁性法測厚工作。
h附著物質本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質敏感，因此，必須清除附著物質，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。
i測頭壓力測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。
j測頭的取向測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。


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