X射線測厚儀thick800a是天瑞儀器專業研制的檢測金屬厚度的儀器,已經在電鍍行業得到大規模的應用,深受客戶**。儀器采用獨特的上照式機構,能夠適應各種不規則和體積大小樣品的表面鍍層測試。三維自動平臺,可實現X/Y/Z軸的自動定位,操作性能好。產品實際性能同類品牌三年以上。X射線電鍍層膜厚儀介紹及圖片:
X射線膜層測厚儀技術參數:
儀器尺寸:
外觀尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
樣品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm ,
特殊測試時,可開蓋,對樣品長度無限制
檢測開槽口時,厚度10mm以上,寬度和深度沒有限制。
樣品臺尺寸:230(W)×210(D)mm
范圍:50(X)mm, 50(Y)mm
Z軸升降平臺升降范圍:0-140mm
2、儀器重量:90kg
3、SDD半導體探測器:
探測器輸入電壓:±12V,+5V
探頭窗口面積:25mm-2---
探頭窗口厚度:0.5mil
分辨率:140±5eV
探頭內制冷溫度:<-40℃
4、X射線光管:
管壓:5-50kV
管流:0-1
材:W
窗口:鈹窗
制冷方式:風冷
工作溫度:≤75℃
5、高壓發生器:
輸入電壓:24V
輸入電流:5A
管壓:0-50kV
管流:0-2
燈絲電壓:5V
燈絲電流:3.5A
6、MCA多道分析器:
輸入電壓:±12V,+5V
采樣頻率:100 KHZ
脈沖幅度:0-7.6V
A/D位數:12位
分析道數:4096道
7、準直器系統:
準直器:?0.1 mm(可根據要求選配)
濾光片:Al(可根據要求選配)
8、高清晰攝像頭:
傳感器類型:CCD(彩色)
接口:U2.0
傳感器廠商:索尼
快門類型:面陣
光學尺寸:1/4英寸
有效像素:659(H)×494(V)
有效像素尺寸:3.69mm(H)×2.77mm(V)
像素尺寸:5.6μm(H)×5.6μmm(V):
感應度:0.58V(索尼標準)
顏色排列:RGB
幀率:30fps
快門速度:1/1538-1/30(秒)
9、自動對焦系統:
通用數字激光傳感器、CMOS激光傳感器
實現樣品高度的自動對焦。
廠商實力:
江蘇天瑞儀器的發展得到了各級的大力支持與幫助,現任局、十二屆**會長,現任局、政協第十二屆全國會,時任局、副總理等各級多次來訪視察工作!
現任局、十二屆**會長等人來我公司調研
現任局常、政協第十二屆全國會委等參觀天瑞儀器
江蘇天瑞儀器股份有限公司被授予“火炬計劃重點高新技術企業”,“江蘇省高新技術企業”,“江蘇省軟件企業”,“江蘇省科技創新示范企業”,“江蘇省規劃布局內重點軟件企業”,“江蘇省光譜分析儀器工程技術研究中心”等榮譽稱。產品具有國際的技術水平,X熒光光譜儀系列產品被認定為“重點新產品”和“江蘇省高新技術產品”。產品品種齊全,為環境保護與安全、工業測試與分析及其它領域提供專業解決方案。
X射線電鍍層測厚儀輻射安全許可證
X射線鍍層測厚儀計量證書。
售后服務體系:
只要客戶方的系統存在問題,請即刻我司的售后服務電話由我司技術工程師遠程指導用戶解決問題。免費服務電話:800-9993-800,24小時服務:400-7102-888
快速的現場服務
當客戶方的系統被診斷為系統故障,而無法通過電話/電子郵件方式、遠程撥入分析等手段解決時,我們的現場工程師會帶上相應的系統工具和軟件立即趕赴現場進行緊急維護。我司承諾在接到業主維修及技術服務要求后立即做出相應,在遠程不能解決問題的情況下,我司工程人員將在24小時內趕到現場,48小時解決出現的問題,保證系統恢復正常運行。
定期訪問交流
定期訪問交流
在客戶系統運行過程中,我司將采取專人定期、不定期方式進行訪問交流,調查項目實施和維護情況,聽取用戶意見,現場解決用戶存在問題,現場對系統進行測試和優化,及時發現系統存在的問題或潛在的故障,提前消除隱患,確保系統安全、穩定的運行,并對此系統運行質量評估。
以上客戶服務響應方式并不是相互孤立、互不相關的,而是以公司的客戶服務中心的組織結構為依托,多種靈活的服務方式相互滲透、緊密結合成為完整統一的客戶服務故障響應體系。這種體系經多個大型工作項目的實際運行體驗,以被認為是高效可行的故障響應方式。
故障響應
針對該項目我公司將以優良的服務態度,我公司承諾在接到業主維修及技術服務要求后立即響應,在遠程能解決問題的情況下,30分鐘以內響應,12小時以內完成提出的維修要求,緊急情況2小時內趕赴現場搶修,一般情況下24小時到達現場。若48小時內無法解決問題,需更換設備或送修,我方承諾提供備機,保證系統恢復正常運行。
客戶服務網點
天瑞儀器已在國內近30個主要城市設立客戶服務網點,提品現場維護與技術支持服務。服務網點售后服務工程師全部經過嚴格專業培訓,具備豐富的產品安調與維護保養經驗。客戶服務網點同時設置備品備件庫,根據周邊地區客戶使用的天瑞儀器產品數量,配置充足的常用備品備件;根據備品備件消耗情況,由上級主管區域服務中心動態調配補充備品備件庫。
按照標準指導性技術檔GB/Z 20288-2006《電子電器產品中有害物質檢測樣品拆分通用要求》中規定:表面處理層應盡量與本體分離(鍍層),對于確定無法分離的鍍層,可對表面處理層進行初篩(使用X射線熒光光譜儀(XRF)手段),篩選合格則不用拆分;篩選不合格,可使用非機械方法分離(如使用能溶解表面處理層而不能溶解本體材料的化學溶劑溶劑提取額)。對鍍層樣品進行RoHS測試時,先用EDX0B儀器直接進行鍍層RoHS測試,如果合格則樣品符合RoHS標準。如果鍍層不合格將進行下步拆分測試。
鍍層測厚儀與傳統方法的區別:
項目
傳統化學分析方法(滴定法、ICP、AAS等方法和設備)
X熒光光譜分析方法
分析速度
分析速度比較慢,快速的測試方法也要10~30min得到測試結果
一般只需1~3min就可以得到測試結果結果
分析效果
測試結果受人為因素影響很大,測試結果重復性不高
幾乎無人為因素影響,測試精度很高,測試重復性很高
勞動強度
全手工分析勞動強度大
X測試過程大部分由儀器完成,人員勞動強度極低。
同時分析元素數
一般一次只能分析一個元素
同時可分析幾十種元素
是否與化學組份、化學態有關
受到待測元素的價態及化學組成的影響,樣品不同的價態和化學組成要采用不同的化學分析方法
純物理測量,與樣品的化學組份、化學態無關
分析測試成本
需要大量的化學品,和較復雜的處理過程,測試成本比較高
無需要制樣,不需要化學品,樣品處理過程簡單,測試成本很低
人員要求
對測試人員需要進行長期嚴格的培訓,人員操作技術要求高
對人員技術要求很低,普通的工人經過簡單的培訓即可熟練操作使用
很多金屬制品以及合金飾品都會進行電鍍,但是對于電鍍的厚度是需要用進行測量的,合格的產品才會被銷往市場上,目前國產鍍層測厚儀已經發展的比較完善,現在國產鍍層測厚儀的種類也是非常多的,那么國產鍍層測厚儀使用時需要注意什么?
1,基體金屬特性:對于磁性方法,國產鍍層測厚儀的標準片應該與試件基體金屬的磁性和表面粗糙度相似,所以在使用的時候國產鍍層測厚儀的標準片應該具備基體金屬特性這個方面;
2,基體金屬厚度:國產鍍層測厚儀在使用之前要檢查基體金屬厚度是否超過臨界厚度,如果沒有,進行校準后可以測量;
3,邊緣效應:不應在緊靠試件的突變處,使用國產鍍層測厚儀的時候不應該在邊緣、洞和內轉角等處進行測量;
4,曲率:對于曲率的測量,不應在試件的彎曲表面上測量,使用國產鍍層測厚儀的時候這一點是非常重要的,曲率的測量并不是簡單的彎曲表面測量;
5,讀數次數:通常國產鍍層測厚儀器的每次讀數并不完全相同,因此必須在每一測量面積內取幾個讀數,覆蓋層厚度的局部差異,也要求國產鍍層測厚儀在任一給定的面積內進行多次測量,表面粗造時更應如此。
此外測量的時候還需要注意被測量物品的表面清潔度,測量前,應清除表面上的任何附著物質,如塵土、油脂及腐蝕產物等,保證國產鍍層測厚儀測量時周圍沒有任何的磁場干擾,因為磁場的干擾程度也會影響國產鍍層測厚儀的時候,此外還應該注意國產都城測厚儀的測頭取向,測頭的放置方式對測量有影響,在測量時應該與工件保持垂直。
產品名稱:鍍層測厚儀
主要特點:
1.測量數據數字化存儲、圖形顯示,準確、直觀,測量精度高。
2.超過三十八種以上的可測量鍍層,以及所有導電性鍍層。絲狀線材和其它異形底材鍍層;
3.實時動態顯示電位變化曲線、可識別和測量合金層或其它中間層;
4.自動詳細分析多層鎳等類似鍍層的電位差值及厚度,評價其耐腐蝕性能;
5.首創的測量多層鎳無需三電極系統,不用x-y記錄儀,儀器更可靠,使用更方便;
6.能分辨不同成份的鍍層、評價鍍層的均勻性,進而判定鍍液的狀況、添加劑的性能;
7.監視測量是否準確、詳細分析測量數據,選擇打印測量曲線和標準格式報告;
8.測量數據便于長期保存、隨時調用,可以利用其它軟件進行數據處理;
9.操作簡便、迅速,無需記憶測量種類代碼等。儀器可自行檢定;
10.軟件免費升級,測量鍍層種類不斷增加。根據用戶要求定制專用軟件,或增加特別硬件。

五金鍍層測量已成為加工工業、表面工程質量檢測的重要環節,是產品達到優等質量標準的必要手段。為使產品國際化,我國出口商品和涉外項目中,對鍍層厚度有了明確要求。
?鍍層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。
?五金鍍層測厚儀是將X射線照射在樣品上,通過從樣品上反射出來的第二次X射線的強度來。測量鍍層等金屬薄膜的厚度,因為沒有接觸到樣品且照射在樣品上的X射線只有45-75W左右,所以不會對樣品造成損壞。同時,測量的也可以在10秒到幾分鐘內完成。
?五金鍍層測厚儀測量值精度的影響因素
?1.影響因素的有關說明
?a基體金屬磁性質
?磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應用中,低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準;亦可用待涂覆試件進行校準。
?b基體金屬電性質
?基體金屬的電導率對測量有影響,而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。
?c基體金屬厚度
?每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見附表
?d邊緣效應
?本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。
?e曲率
?試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。
?f試件的變形
?測頭會使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測出可靠的數據。
?g表面粗糙度
?基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大,影響增大。粗糙表面會引起系統誤差和偶然誤差,每次測量時,在不同位置上應增加測量的次數,以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,再校對儀器的零點。
?g磁場
?周圍各種電氣設備所產生的強磁場,會嚴重地干擾磁性法測厚工作。
?h附著
-/gjdgee/-
http://www.zxqc92003.cn