膜厚儀采用磁感應原理時，利用從測頭經過非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，磁感應膜厚儀來測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著線圈的測頭放在被測樣本上時，儀器自動輸出測試電流或測試信號。早期的產品采用指針式表頭，測量感應電動勢的大小，儀器將該信號放大后來指示覆層厚度。近年來的電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術，利用磁阻來調制測量信號。還采用專利設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現性有了大幅度的提高（幾乎達一個數量級）。現代的磁感應測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1，量程達10mm。

磁性原理測厚儀可應用來精確測量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護層，塑料、橡膠覆層，包括鎳鉻在內的各種有色金屬電鍍層，以及化工石油待業的各種防腐涂層。

尊敬的客戶： 您好！江蘇天瑞儀器股份有限公司是一家擁有專業技術團隊企業，如需對產品進 行進一步的了解，請撥打我們的服務熱線，我們將竭盡全力的為您服務。除此之外，本公司的主要產品有：色差儀、超聲波探傷儀、塵埃粒子計數器、膜厚儀、推拉力計、測速儀等，歡迎咨詢了解。

X射線膜厚度分析儀產品介紹

X射線膜厚度分析儀產品技術參數介紹，江蘇天瑞儀器股份有限公司專業生產X射線膜厚度分析儀儀thick800a具有良好的射線屏蔽作用，測試口高度敏感性傳感器保護。

天瑞公司的thick800a能夠滿足各種金屬層不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求，φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求，高精度移動平臺可精確定位測試點，重復定位精度小于0.005mm，采用高度定位激光，可自動定位測試高度，定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊，鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點，高分辨率探頭使分析結果更加精準。天瑞儀器X-ray鍍層測厚儀Thick800A是基于X射線熒光無損分析原理的快速鍍層測驗，是一款上招式設計的，自帶三維移動平臺，XYZ可定點，在鍍層檢測中可謂大展身手。

技術指標

SDD半導體探測器：探測器輸入電壓：±12V，+5V，探頭窗口面積：25mm-2---，探頭窗口厚度：0.5mil，分辨率：140±5eV，探頭內制冷溫度：<-40℃。

X射線光管：管壓：5-50kV，管流：0-1mA，靶材：W靶，窗口：鈹窗，制冷方式：風冷，工作溫度：≤75℃。

高壓發生器：輸入電壓：24V，輸入較大電流：5A，管壓：0-50kV，管流：0-2mA，燈絲較大電壓：5V

，燈絲較大電流：3.5A

MCA多道分析器：輸入電壓：±12V，+5V，采樣頻率：100 KHZ，脈沖幅度：0-7.6V，A/D位數：12位

分析道數：2048道

準直器系統：準直器：?0.1 mm(可根據要求選配)，濾光片：Mo(可根據要求選配)

高清晰攝像頭：傳感器類型：CCD（彩色），接口：USB2.0，傳感器廠商：索尼，快門類型：面陣，光學尺寸：1/4英寸，有效像素：659(H)×494（V），有效像素尺寸：3.69mm(H)×2.77mm(V)

像素尺寸：5.6μm(H)×5.6μmm(V)：感應度：0.58V（索尼標準）

顏色排列：RGB

幀率：30fps

快門速度：1/1538-1/30（秒）

自動對焦系統：通用數字激光傳感器、CMOS激光傳感器

儀器尺寸：

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm ，

特殊測試時，可開蓋，對樣品長度無限制

檢測開槽口時，厚度10mm以上，寬度和深度沒有限制。

樣品臺尺寸：230(W)×210(D)mm

移動范圍：50(X)mm， 50(Y)mm

應用領域：

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.

金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。

主要用于貴金屬加工和首飾加工行業；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業。

樣品測試譜圖，高清，譜線明顯。：

江蘇天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識產權的高科技企業，注冊資本46176萬。旗下擁有蘇州天瑞環境科技有限公司、北京邦鑫偉業技術開發有限公司、深圳市天瑞儀器有限公司、上海貝西生物科技有限公司、天瑞環境科技（仙桃）有限公司五家全資子公司和廈門質譜儀器儀表有限公司、江蘇國測檢測技術有限公司、上海磐合科學儀器股份有限。專業的400售后維修熱線，7*24小時在線，4小時響應，24小時上門服務。

售后服務：

公司本著“客戶至上、高效快捷、誠信務實、價格合理"的經營合作理念,為您提供快速優質的技術服務。產品送貨上門，培訓安裝，耗材配件，實驗室打包解決方案。

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